[实用新型]一种适用于EBSD测试的样品座

说明书

本实用新型公开了一种适用于EBSD测试的样品座，涉及EBSD测试技术领域。该适用于EBSD测试的样品座，包括基台、座体和样品，所述基台为EBSD专用70°预倾台。基台包括基台本体，所述基台本体的底部固定连接有固定杆，所述基台本体的顶部设置有倾面，所述倾面上开设有固定螺栓孔，所述基台本体上设置有与水平面呈70°的斜面。该适用于EBSD测试的样品座，采用倾斜角为七十度的座体固定样品，对于板带织构分析试样，样品容易放正，当电镜坐标系与样品坐标系重合后，样品边缘也与电镜上的十字交叉对准线平行，使用调节螺杆固定样品，不会出现试验过程中试样发生移动的情况，降低操作难度的同时提高了工作效率，方便了使用者的使用。

技术领域

本实用新型涉及EBSD测试技术领域，具体为一种适用于EBSD测试的样品座。

背景技术

确定晶体取向、取向差或取向关系，以及晶界指数，是应用EBSD技术完成的主要工作之一。晶体取向分析功能使EBSD技术已逐渐成为一种标准的微区织构分析技术新方法。

用EBSD测板带产品如电工钢、汽车板IF钢等微观织构，由于其性能与织构有直接关系。所以样品是否摆正非常重要，因为会直接影响测量结果，否则会增大测量误差，甚至会得到错误的试验结果。

由于板带样品厚度薄，一般需要镶嵌后再进行制样。圆形的镶嵌样品尺寸比较大，如直接粘在通用的样品座上，样品摆正比较困难，大样品会挡住70°预倾台端部水平直线边，很难保证板带样品边缘与预倾台端部水平直线边平行。而且镶嵌样品也比较重，如采用传统的固定方式，样品台垂直方向倾斜70°，在重力作用下,样品在测试过程中容易发生滑动,使原来设定好检测区域发生改变，导致图片发生偏折,使试验结果不准确甚至失败。

在现有技术中，仅采用水平放置样品的方式对样品进行测试操作，板带镶嵌样品圆形尺寸大不容易摆正，镶嵌样品重量较大，试验过程中会出现移动，导致最终图像漂移，试验失败，增加操作难度的同时降低了工作效率，给使用者的使用带来不便。

实用新型内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种适用于EBSD测试的样品座，解决了在现有技术中，仅采用水平放置样品的方式对样品进行测试操作，板带镶嵌样品圆形尺寸大不容易摆正，镶嵌样品重量较大，试验过程中会出现移动，导致最终图像漂移，试验失败的问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种适用于EBSD测试的样品座，包括基台、座体和样品，所述基台为EBSD专用70°预倾台。

基台包括基台本体，所述基台本体的底部固定连接有固定杆，所述基台本体的顶部设置有倾面，所述倾面上开设有固定螺栓孔，所述基台本体上设置有与水平面呈70°的斜面，所述倾面与斜面的交界线与水平面平行，所述斜面上开设有插孔，所述插孔相对于斜面垂直设置，所述固定螺栓孔与插孔连通；

所述座体包括固定框架，所述固定框架的底端设置有与插孔配合设置的插杆，所述固定框架上开设有平行面，当插杆插入至插孔内时，平行面与交界线平行，样品固定在座体中，轧向或横向与平行面平行。

优选的，所述固定框架的两侧均贯穿设置有调节螺杆，且调节螺杆与固定框架螺纹连接。

(三)有益效果

本实用新型提供了一种适用于EBSD测试的样品座。具备以下有益效果：

该适用于EBSD测试的样品座，采用倾斜角为七十度的座体固定样品，对于板带织构分析试样，样品容易放正，当电镜坐标系与样品坐标系重合后，样品边缘也与电镜上的十字交叉对准线平行，使用调节螺杆固定样品，不会出现试验过程中试样发生移动的情况，降低操作难度的同时提高了工作效率，方便了使用者的使用。

附图说明