[实用新型]一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置有效

专利信息
申请号: 201921474079.6 申请日: 2019-09-06
公开(公告)号: CN211528207U 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 李子帙;赵玉华;徐志乐 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01N21/3563 分类号: G01N21/3563;G01N21/01;G01N21/03
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 测量 薄膜 材料 等效 装置
【说明书】:

一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质,需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况,现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。其组成包括:支撑外框(1),所述的支撑外框(1)外形尺寸是与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应,所述的支撑外框(1)与左试样夹具(3)、右试样夹具(4)固定,所述的左试样夹具(3)和右试样夹具(4)与被测薄膜试样(5)固定,所述的被测薄膜试样(5)因穿过加热筒(6)内部而被加热到所需要的温度,所述的加热筒(6)与温度传感器装置(2)连接,所述的被测材料加热部分(5)与所述的加热筒装置(2)内滑动。本实用新型用于材料科学。

技术领域

本实用新型涉及一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。

背景技术

一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质,需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况,现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。对于通过红外光谱仪进行光谱分析的化学物质,研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况,现有的红外光谱仪未配备研究此过程微观结构的谱带变化的附件——红外光谱仪的薄膜材料时温等效性测量装置,因而不能研究在进行拉伸随着温度升高试验时,被测试样在拉伸载荷的作用下发生从一种排列状态转变成另一种排列状态(例如构象、键长、键角等的变化)时,红外谱带的、峰形、峰高的变化情况。不能研究在升温拉伸实验时被测试样随着温度的升高,高聚物自由体积发生变化时某些特定的官能团会发生量的变化过程,这个过程发生时可以用来预测或者验证被测材料玻璃化转变区域的温度范围。

本实用新型是利用现有仪器的光路条件,在相关样品池的可用空间内,完成拉伸力在温度升高测试过程官能团变化的附件。用于红外光谱仪研究拉伸力在温度升高测试过程官能团变化过程微观谱带变化的附件——一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。对于通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质,需要研究各种聚合物的微观结构在在温度升高测试过程官能团变化过程微观谱带变化情况,现有的红外光谱仪未配备此性能测量装置,因而不能研究在在温度升高测试过程官能团变化过程微观谱带变化发生的情况下被测试样的分子间相互发生的作用的变化过程。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。

上述的目的通过以下的技术方案实现:

一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置,其组成包括:支撑外框,其特征是:所述的支撑外框与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应,所述的支撑外框与左试样夹具、右试样夹具固定,所述的试样夹具与被测薄膜样品固定,所述的被测薄膜试样因穿过加热筒内部而被加热到所需要的温度,所述的加热筒与温度传感器装置连接,所述的被测材料加热部分与所述的加热筒装置内滑动。

有益效果:

1.本实用为新型创新型附件。研究薄膜材料时温等效性大多数通过各种模型描述,直接应用红外光谱的方法较少见。

2.支撑外框,所述的支撑外框与红外光谱仪样品仓的可用空间相适应,对试样进行红外光谱测试时直接将本实用新型放在入红外光谱仪的样品舱内即可,经济方便实用。

3.所述的支撑外框与所述的支撑外框与左试样夹具、右试样夹具固定,所述的左试样夹具、右试样夹具,目的是为了方便施力,必须有一个稳定的支点,夹具的中心轴固定在支撑外框上不动,可以给试样一个恒定的施力过程。

4.所述的被测材料加热部分与所述的加热筒装置内滑动。所述的加热筒装置筒壁穿过试样的两端口与密封条固定。

5.所述的被测试样与应力片贴紧。上夹具宽度大于试样宽度,不锈钢材质,强度比较高,可与薄膜紧密接触,使其受力均匀,均匀传递载荷,避免增加额外的实验误差,更换试样方便,利于操作。

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