[实用新型]一种电解抛光用样品托有效
| 申请号: | 201921472876.0 | 申请日: | 2019-09-05 |
| 公开(公告)号: | CN211497856U | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
| 发明(设计)人: | 张玉成;杨瑞;姚武刚;鞠新华 | 申请(专利权)人: | 首钢集团有限公司 |
| 主分类号: | C25F7/00 | 分类号: | C25F7/00;G01N1/32;G01N23/20008 |
| 代理公司: | 北京华谊知识产权代理有限公司 11207 | 代理人: | 王普玉 |
| 地址: | 100041 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电解 抛光 样品 | ||
一种电解抛光用样品托,属于金属材料表面处理技术领域。样品托包括样品托主体、主滑块、从滑块、调节螺钉、固定螺钉及方形槽等。样品托主体中心有方形槽,主滑块和从滑块位于方形槽内;调节螺钉通过样品托主体与主滑块相连接;样品托主体和底盖上下放置,并通过固定螺钉相连接。优点在于,通过旋转调节螺钉,可随意调整需要的抛光范围;不同试样切换简便,提高测试效率。
技术领域
本实用新型属于金属材料表面处理技术领域,特别涉及一种电解抛光用样品托。
背景技术
在利用X射线衍射仪进行织构分析和利用场发射扫描电镜进行EBSD分析时,都需要试样表面无氧化层、无热影响区、无应力层。因此,试样经过砂纸打磨、机械抛光后,必须进行电解抛光处理,以去除表面应力层。
X射线衍射仪和场发射扫描电镜均属于微区分析设备,由于束斑大小的限制,在进行织构和EBSD分析时,仅仅扫描样品的非常小区域(XRD:毫米级,EBSD:微米级)。因此,在制样时,没必要对整个样品进行电解抛光,只需对试样的不同区域和范围进行电解抛光即可,这样既可以减少对整个试样电解抛光带来电解液的浪费,又不会造成整个试样的污染。
为了实现对试样不同区域和范围进行电解抛光,需要不同尺寸的样品托。电解抛光仪的厂家一般都标配有一系列特定孔径,如0.5、1、2、5cm2等尺寸的圆形和长方形的样品托,根据孔径的大小来实现抛光范围的大小。然而,实际工作中,不同试样规格的不同或者需要对试样表面上某些特定的区域进行电解抛光,但设备厂家提供的样品托,由于只有特定规格的尺寸,无法满足所有试样或者特定的区域进行电解抛光;另外,如果一次电解多个样品,而每个样品的抛光面积都不一样的话,需要不停地更换样品托,浪费时间。
因此,开发一种可快速调节孔径尺寸的样品托,是非常必要的。
发明内容
本实用新型的目的在于提供一种电解抛光用样品托,解决了电解抛光仪厂家提供的特定规格样品托无法满足任意抛光范围,需要频繁更换样品的问题。
一种电解抛光用样品托,包括样品托主体1、主滑块2、从滑块3、调节螺钉4、固定螺钉5、方形槽6和底盖7。样品托主体1中心有方形槽6,主滑块2 和从滑块3位于方形槽6内;调节螺钉4位于样品托主体1的侧面,调节螺钉4 通过样品托主体1与主滑块2相连接;固定螺钉5位于样品托主体1顶部,样品托主体1和底盖7上下放置,并通过固定螺钉5相连接;
固定螺钉5为四个,两两对称位于样品托主体1顶部;
从滑块3为三个,均位于方形槽6内并依次相连,其中两块分别与主滑块2 的两边相连接。
使用时,首先将底盖7水平放置,将样品托主体1放在底盖7上方;接着将主滑块2和从滑块3放入装置主体中的方形槽6中,并将调节螺钉4与主滑块 2连接;然后通过固定螺钉5将样品托主体1和底盖7固定;而后将样品托和底盖7一起放置于电解抛光仪的样品台上。这样,通过旋转调节螺钉4,可以实现主滑块2的移动,进而带动三个从滑块3的移动,使得主滑块2和三个从滑块 3之间包围面积发生改变,即可实现电解抛光范围的改变。
本实用新型的优点在于,使用非常方便,通过旋转调节螺钉,可以随意调整需要的抛光范围;另外,不同试样切换时,样品托可以不动,单纯通过调节螺钉的前进或后退,就可以快速实现抛光区域大小的调节,减少因不同抛光面积的试样需更换不同常规样品托所用的时间,提高测试效率。
附图说明
图1为样品托俯视图。其中,样品托主体1、主滑块2、从滑块3、调节螺钉4、固定螺钉5、方形槽6。
图2为样品托侧视图。其中,样品托主体1、调节螺钉4、固定螺钉5、底盖7。
图3为样品托仰视图。其中,调节螺钉4、固定螺钉5、底盖7。
具体实施方式
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