[实用新型]一种具有测量机构的涂层膜厚仪有效

专利信息
申请号: 201921471372.7 申请日: 2019-09-05
公开(公告)号: CN210533315U 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 周文荣;陈周敏;崔久民;葛立生 申请(专利权)人: 弧光纳米科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B21/08 分类号: G01B21/08
代理公司: 苏州集律知识产权代理事务所(普通合伙) 32269 代理人: 安纪平
地址: 215215 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 测量 机构 涂层 膜厚仪
【说明书】:

实用新型提供一种具有测量机构的涂层膜厚仪。所述具有测量机构的涂层膜厚仪包括壳体,所述壳体的表面通过连接块固定连接有上螺纹管,所述上螺纹管内壁的表面连通有电线管,所述电线管的后端贯穿壳体并延伸至壳体的内部,所述电视线管的内部设置有数据线,所述上螺纹管的内部螺纹连接有下螺纹管,所述下螺纹管前端的内壁固定连接有限位块,所述下螺纹管的内部设置有测量探头。本实用新型提供的具有测量机构的涂层膜厚仪通过防尘盖可以防止仪器表面在长时间不使用后灰尘过多,通过固定式的测量机构,简化了测量的操作过程,通过储物槽和储物格可以储存多种型号的测量探头,通过上螺纹管下螺纹管可以简单方便的对测量探头进行安装和拆卸更换。

技术领域

本实用新型涉及膜厚仪领域,尤其涉及一种具有测量机构的涂层膜厚仪。

背景技术

膜厚仪又名膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪,手持式的磁感应原理是,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。

通常的手持式膜厚仪需要一手持仪器本体一手持探测头,将探测头贴近之后进行测量,这样就无法记录测量的数据,且现有的膜厚仪没有防尘罩,表面容易落灰,且现有的膜厚仪测量头的更换与存储也很麻烦。

因此,有必要提供一种具有测量机构的涂层膜厚仪解决上述技术问题。

实用新型内容

本实用新型提供一种具有测量机构的涂层膜厚仪,解决了现有的膜厚仪需要双手操作无法记录数据,测量探头更换与存储麻烦的问题。

为解决上述技术问题,本实用新型提供的具有测量机构的涂层膜厚仪包括壳体,所述壳体的表面通过连接块固定连接有上螺纹管,所述上螺纹管内壁的表面连通有电线管,所述电线管的后端贯穿壳体并延伸至壳体的内部,所述电线管的内部设置有数据线,所述上螺纹管的内部螺纹连接有下螺纹管,所述下螺纹管前端的内壁固定连接有限位块,所述下螺纹管的内部设置有测量探头,所述测量探头的前端贯穿下螺纹管并延伸至下螺纹管的外部,所述数据线的前端与测量探头的后端电性连接,所述测量探头的表民与电线管的表面套设有复位弹簧,所述复位弹簧的后端与上螺纹管的内壁固定连接,所述壳体的两侧均固定连接有螺纹筒,所述螺纹筒的内部均螺纹连接有螺栓,两个所述螺栓相对的一侧之间设置有防尘盖,所述防尘盖内壁顶部的两侧均固定连接有固定片,所述防尘盖内壁顶部的两侧均固定连接有自锁卡柱,所述壳体顶部的两侧均设置有与自锁卡柱相适配的自锁装置,所述壳体的两侧均通过固定柱转动连接有支撑装置。

优选的,所述自锁装置包括自锁外壳,所述自锁外壳的底部与壳体的顶部固定连接,所述自锁外壳的底部固定连接有筒体,所述筒体的底部贯穿壳体并延伸至壳体的内部,所述筒体内壁的底部固定连接有自锁弹簧,所述自锁弹簧的顶端固定连接有自锁柱,所述自锁柱左侧的顶部和右侧的顶部均固定连接有自锁卡,所述自锁卡与自锁卡柱相适配。

优选的,所述所述支撑装置包括下支撑框,所述下支撑框的底部通过固定柱与壳体转动连接,所述下支撑框的顶部通过连接轴转动连接有上支撑框,所述下支撑框和上支撑框内壁的两侧之间均固定连接有挡板,所述连接轴的表面且位于下支撑框的内部套设有弹簧,所述弹簧的顶端和底端分别与两个所述挡板固定连接,所述上支撑框的顶部通过转轴和固定片转动连接。

优选的,所述壳体的底部开设有储物槽,所述储物槽的内部设置有储物格,所述壳体底部的右侧合页铰接有壳盖。

优选的,所述壳体的顶部设置有操作按钮,所述壳体的顶部设置有显示屏。

优选的,所述数据线的前端与测量探头的后端均设置有相适配的卡接环。

与相关技术相比较,本实用新型提供的具有测量机构的涂层膜厚仪具有如下有益效果:

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