[实用新型]一种摄像头模组探针测试治具结构有效
申请号: | 201921452336.6 | 申请日: | 2019-08-30 |
公开(公告)号: | CN210690643U | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 徐敬;付艳波 | 申请(专利权)人: | 深圳市涌固精密治具有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 梁炎芳;谭雪婷 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华新区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 摄像头 模组 探针 测试 结构 | ||
本实用新型公开了一种摄像头模组探针测试治具结构,包括针座、固定薄片、浮动框、若干探针以及若干弹簧,所述针座位于固定薄片上方,所述浮动框位于针座上方,各所述弹簧位于浮动框与针座之间,所述针座和固定薄片上分别设置有若干用于放置探针的针孔。本实用新型通过将限位摄像头模组连接器的定位槽设于针座上,使定位槽和针座为一体,测试时,可消除转配造成的公差,提高测试精度,且不会卡住探针,同时在针座上设置排污孔,将测试时留下的脏污排到下方的固定薄片上,以防止脏污影响测试。
技术领域
本实用新型涉及测试治具领域,尤其涉及的是一种摄像头模组探针测试治具结构。
背景技术
现有常规摄像模组测试治具结构为摄像模组的连接器定位槽设计在浮动框上,浮动框上开针孔,测试探针固定在针座内,然后通过浮动框上下浮动把探针覆盖和漏出,从而使得摄像模组的连接器和探针导通进行测试或断开结束测试。此类常规针座组结构容易出现以下问题:
1.定位槽与探针分别在两个不同部件上,两个部件加工、组装配合会有公差,会导致探针与连接器接触位置有偏差。
2.针座浮动框上下运动,探针通过浮动框的针孔时,容易卡住探针,从而导致探针和摄像模组的连接器接触不到。
以上问题点都会导致摄像模组测试电性不良率增加,影响产能和效率。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种摄像头模组探针测试治具结构,测试摄像头模组时探针不会卡住,测试精度高,利于生产加工,测试效率高。
本实用新型的技术方案如下:一种摄像头模组探针测试治具结构,包括针座、固定薄片、浮动框、若干探针以及若干弹簧,所述针座位于固定薄片上方,所述浮动框位于针座上方,各所述弹簧位于浮动框与针座之间,所述针座和固定薄片上分别设置有若干用于放置探针的针孔;
其中,所述针座为凸台,所述凸台顶部中心凹设有用于放置连接器的定位槽,所述浮动框中心设置有用于避位凸台顶部的镂空槽,所述镂空槽尺寸与连接器适配。
采用上述技术方案,所述的摄像头模组探针测试治具结构中,所述定位槽内开设有若干排污孔。
采用上述各个技术方案,所述的摄像头模组探针测试治具结构中,所述针座底面中心凹设有避空槽。
采用上述各个技术方案,所述的摄像头模组探针测试治具结构中,所述固定薄片顶面设置有两个用于收集脏污的容纳槽。
采用上述各个技术方案,本实用新型通过将限位摄像头模组连接器的定位槽设于针座上,使定位槽和针座为一体,测试时,可消除装配造成的公差,提高测试精度,且不会卡住探针,同时在针座上设置排污孔,将测试时留下的脏污排到下方的固定薄片上,以防止脏污影响测试。
附图说明
图1为本实用新型的爆炸结构示意图;
图2为本实用新型的测试剖面示意图;
图3为本实用新型的针座俯视示意图;
图4为本实用新型的针座仰视示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例,对本实用新型进行详细说明。
本实施例提供了一种摄像头模组探针测试治具结构,包括针座1、固定薄片2、浮动框3、若干探针6以及若干弹簧5,所述针座1位于固定薄片2上方,所述浮动框3位于针座1上方,各所述弹簧5位于浮动框3与针座1之间,所述针座1和固定薄片2上分别设置有若干用于放置探针6的针孔4。
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