[实用新型]通用芯片开短路测试电路

说明书

本实用新型公开了一种通用芯片开短路测试电路，该电路包括单片机、DAC电路、恒流源电路、三态驱动电路、芯片座及高精度ADC采样电路，所述单片机与三态驱动电路连接，该单片机还分别与DAC电路及高精度ADC采样电路连接并通信，所述恒流源电路分别与DAC电路的输出端、三态驱动电路的输出端、待测试芯片的输入端及高精度ADC采样电路的输入端连接。本实用新型的单片机通过高精度ADC采样电路读取待测试芯片的引脚的电压判断待测试芯片的引脚为开路或短路，结构简单，成本低。此外，本实用新型的单片机适用于测试20引脚以内待测试芯片的任意引脚的开短路，测试效率及稳定性高。

【技术领域】

本实用新型涉及芯片检测技术领域，特别涉及一种成本低、测试效率高且稳定性高的通用芯片开短路测试电路。

【背景技术】

芯片开短路测试是指测试芯片内部邦定线的是否开路或者短路，具体来说就是测试芯片内部引脚之间应该连接的地方是否连接，不应该连接的地方是否没有连接，如果应该连接的地方没有连接，就是开路，如果不应该连接的地方连接，就是短路。目前市场上采用的芯片开短路测试方法一般是用大型逻辑测试仪通过电脑上位机完成测试，其存在测试成本偏高的缺陷，且部分测试设备不支持测试芯片的引脚间短路。

【发明内容】

针对现有技术的不足，本实用新型旨在于提供一种结构简单、成本低、测试效率及稳定性高的通用芯片开短路测试电路。

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种通用芯片开短路测试电路，该电路包括单片机、DAC电路、恒流源电路、三态驱动电路、用于连接待测试芯片的芯片座及高精度ADC采样电路，所述单片机与三态驱动电路连接，该单片机还分别与DAC电路及高精度ADC采样电路连接并通信，所述恒流源电路分别与DAC电路的输出端、三态驱动电路的输出端、芯片座及高精度ADC采样电路的输入端连接。

所述单片机的型号为ZYNQ-7010，该单片机通过SPI分别与DAC电路及高精度ADC采样电路通信。

所述DAC电路包括第二芯片U2、第三电阻R3及第四电阻R4，所述第二芯片U2分别与单片机及恒流源电路连接，所述第二芯片U2的第二引脚分别与第三电阻R3的一端及第四电阻R4的一端连接，所述第三电阻R3的另一端接地，所述第四电阻R4的另一端与电源连接。

进一步地，所述第二芯片U2是型号为TLC5615的芯片。

所述恒流源电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第五电阻R5、第一MOS管Q1及第三芯片U3，所述第三芯片U3为运算放大器，所述第一电阻R1的一端与DAC电路的输出端连接，其另一端与第三芯片U3的同相输入端连接，所述第三芯片U3的反相输入端分别与第五电阻R5的一端及第一MOS管Q1的源极连接，所述第三芯片U3的输出端与第二电阻R2的一端连接，所述第五电阻R5的另一端接地，所述第一MOS管Q1的栅极与第二电阻R2的另一端连接，所述第一MOS管Q1的漏极分别与三态驱动电路的输出端、待测试芯片及高精度ADC采样电路的输入端连接。

所述三态驱动电路包括第一芯片U1，该第一芯片U1是型号为74HC126的芯片。

所述待测试芯片设有3～20个引脚。

所述待测试芯片的各引脚的对接地端和/或对接电源端分别设有ESD保护二极管。

所述高精度ADC采样电路包括第六电阻R6及第五芯片U5，所述第六电阻R6的一端与待测试芯片连接，其另一端与第五芯片U5的电压采样引脚连接，所述第五芯片U5与单片机连接并通信。

优选地，所述第五芯片U5是型号为TLC2543的芯片。