[实用新型]芯片拉电流测试电路有效
| 申请号： | 201921445437.0 | 申请日： | 2019-09-02 |
| 公开（公告）号： | CN210690752U | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 禹乾勋 | 申请（专利权）人： | 深圳市华力宇电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人： | 李捷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片 电流 测试 电路 | ||
1.一种芯片拉电流测试电路，其特征在于，该电路包括单片机(10)、恒流源电路(20)、引脚选择电路(30)、电源管理单元(40)及用于连接待测试芯片的芯片座(50)，所述单片机(10)分别与恒流源电路(20)及引脚选择电路(30)连接，所述单片机(10)还与电源管理单元(40)连接并通信，所述引脚选择电路(30)分别与恒流源电路(20)、电源管理单元(40)及芯片座(50)连接。
2.如权利要求1所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，该单片机(10)通过SPI通信接口与电源管理单元(40)通信。
3.如权利要求1所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，所述恒流源电路(20)包括第二芯片U2、第一电阻R1、第二电阻R2及第一MOS管Q1，所述第二芯片U2为运算放大器，该第二芯片U2的同相输入端与单片机(10)连接，其反相输入端分别与第一电阻R1的一端、第一MOS管Q1的源极连接，其输出端与第二电阻R2的一端连接，所述第一电阻R1的另一端接地，所述第一MOS管Q1的栅极与第二电阻R2的另一端连接，所述第一MOS管Q1的漏极与引脚选择电路(30)连接。
4.如权利要求3所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，所述第二芯片U2的型号为LF356，所述第一MOS管Q1的型号为IRFPG30。
5.如权利要求1所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，所述引脚选择电路(30)包括第三芯片U3及继电器RELAY，所述第三芯片U3分别与单片机(10)及继电器RELAY的线圈负端连接，所述继电器RELAY的线圈正端与电源连接，所述继电器RELAY的常开触点与恒流源电路(20)的输出端连接，其公共端分别与电源管理单元(40)及芯片座(50)连接，所述继电器RELAY的数量与待测试芯片的待测引脚数量相同。
6.如权利要求5所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，所述第三芯片U3是型号为达林顿管ULN2003的芯片。
7.如权利要求5所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，所述继电器RELAY的数量为六个。
8.如权利要求1所述的芯片拉电流测试电路，其特征在于，该测试电路的最大拉电流输出为2A。
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