[实用新型]一种PCB金手指外观检测机构有效
申请号: | 201921426555.7 | 申请日: | 2019-08-30 |
公开(公告)号: | CN210570477U | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 王欣;冯娇娇;贺仁虎 | 申请(专利权)人: | 智恩电子(大亚湾)有限公司 |
主分类号: | G01B7/34 | 分类号: | G01B7/34;G01N27/20 |
代理公司: | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 杨光 |
地址: | 516081 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pcb 手指 外观 检测 机构 | ||
本实用新型公开了一种PCB金手指外观检测机构,属于PCB检测装置技术领域,包括底板、升降杆、安装板,所述的升降杆底部固定连接于底板上,所述的安装板滑动安装于升降杆上,所述的安装板上设置有感应微晶探针阵列,所述的感应微晶探针端部设置有方形垫片,所述的感应微晶探针上部设置有弹性件,通过探针长度变化,感应电阻差异,从而检测出金手指外观高度不良,本实用新型通过阵列排布的方形探针对金手指外观高度进行检测,并且方形探针在检测过程中可以防止对金手指表面造成针孔、划伤等不良。
技术领域
本实用新型涉及属于PCB检测装置技术领域,尤其涉及一种PCB金手指外观检测机构。
背景技术
光波通讯主板的金手指作用元器件的重要连接部位,其外观的平整性与光滑性关系到使用过程的可靠性,人工检测时由于出货量大,并且金手指外观电金的高度反光,容易造成人员检测漏失。
因而采用 “一种光波通讯主板金手指外观检测装置”来协助人工检测金手指外观,提高其检测效率与品质。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供一种PCB金手指外观检测机构,通过阵列排布的方形探针对金手指外观高度进行检测,并且在检测过程中可以防止对金手指表面造成针孔、划伤等不良。
为了达到上述目的,本实用新型采用以下技术方案:
一种PCB金手指外观检测机构,其特征在于,包括底板、升降杆、安装板,所述的升降杆底部固定连接于底板上,所述的安装板滑动安装于升降杆上,安装板与底板保持平行,所述的安装板上设置有若干个感应微晶探针,所述的感应微晶探针端部设置有方形垫片,所述的感应微晶探针上部设置有弹性件。
进一步的,所述的安装板为空心长方体机构。
进一步的,所述的安装板底面开设有若干个阵列排布的圆孔,感应微晶探针安装于圆孔内,与安装板内插接板连接。
进一步的,所述的安装板顶部设置有盖板,盖板一端铰接于安装板本体上,方便更换插接板。
进一步的,所述的安装板内设置有探针插接板。
进一步的,所述的弹性件为微型铜结构弹簧,使探针在检测后可以自行恢复原高度。
进一步的,所述的方形垫片除底面以外的面设置有绝缘层,绝缘层为塑胶结构,表面进行光滑平面,防止微晶单元之间互相摩擦,从而影响检测精度。
进一步的,所述的感应微晶探针设置有电阻感应元件,电阻感应元件整体感应电阻的差异。
进一步的,所述的方形垫片厚度为1mm,接触面为0.5mm*0.5mm。
进一步的,所述的感应微晶探针按阵列方式排列。
本实用新型有益效果
本实用新型提供一种PCB金手指外观检测机构,通过阵列排布的探针对金手指外观高度进行检测,通过探针高度变化引起微晶感应单元内的电阻变化来检测金手指表面的高度不良,并且探针接触端设置有方形垫片可以防止在检测中对金手指表面造成针孔、划伤等不良,提高检测效率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1本实用新型结构示意图;
图2本实用新型感应微晶探针结构示意图;
图3本实用新型感应微晶探针排列示意图;
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