[实用新型]多层陶瓷电容器无损检测装置

说明书

本实用新型公开了多层陶瓷电容器无损检测装置，包括低通放大电路、稳压滤波电路和放大跟随电路，有效的对噪音进行了滤除，避免噪音对裂纹信号产生影响，所述低通放大电路接收声发射传感器检测到的裂纹信号，经过低通滤波器进行一次滤波并进入放大电路进行一次放大，所述稳压滤波电路将经过低通放大电路的裂纹信号经过稳压电路进行稳压，随后进入π型滤波电路进行二次滤波，滤除在稳压期间混入的噪音干扰，最后将经过稳压滤波的裂纹信号进入由运放器U2A和三极管Q3为核心组成的放大跟随电路中进行二次放大，最后将裂纹信号输出到单片机，解决了因裂纹信号精度不高而影响了单片机对裂纹信号的分析的问题。

技术领域

本实用新型涉及无损检测领域，特别是涉及多层陶瓷电容器无损检测装置。

背景技术

无损检测装置是无损害的对物件进行各种测试的装置。

多层陶瓷电容器是介质材料为陶瓷的电容器，陶瓷是一种脆性材料，极易有裂纹的产生，进而影响到多层陶瓷电容器的使用效果，在这种情况下生产商一般会采用无损检测装置检测多层陶瓷电容器的裂纹情况。目前，多层陶瓷电容器无损检测方法主要分为超声检测方法、红外热成像法、微焦点X射线法和声发射检测法，因声发射检测法在检测陶瓷电容时有效率较高，所以人们将它应用的场合也比较多，但是声发射传感器在检测陶瓷电容时易受到检测环境中噪声的影响而导致裂纹信号的精度不高，影响单片机对信号的分析。

因此本实用新型提供一种方案来解决此问题。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供多层陶瓷电容器无损检测装置，具有构思巧妙、人性化的设计，有效的解决了由于噪声的影响造成的裂纹信号精度不高影响单片机对裂纹信号进行分析的问题。

其解决的技术方案是，包括低通放大电路、稳压滤波电路和放大跟随电路，所述低通放大电路接收声发射传感器检测到的多层陶瓷电容器的裂纹信号，首先运用由电阻R1和电容C1组成的低通滤波器将高于200KHz的频率的噪声滤除掉，只保留频率为200KHz以下的裂纹信号，并进入由三极管Q1和三极管Q2为核心组成的放大电路进行一次放大，所述稳压滤波电路将经过低通放大电路的裂纹信号，经过由可控精密稳压源U1为核心组成的稳压电路进行稳压，也使整个电路工作在稳定的电压下，随后进入由电阻R10、电容C2和电阻C4组成的π型滤波电路进行二次滤波，裂纹信号先经过电容C2，然后经过电阻R10和电容C4组成的分压电路对混入的交流成分的噪音的衰减量很大，滤除在稳压期间混入的噪音干扰，最后将经过稳压滤波的裂纹信号进入由运放器U2A和三极管Q3为核心组成的放大跟随电路中进行二次放大，利用电感L1和电容C8组成的LC滤波电路进行滤波，最后将裂纹信号输出到单片机进行分析。

本实用新型将声发射传感器检测到的裂纹信号经过低通放大电路将高于200KHz的频率的噪声给滤除掉，并将裂纹信号进行一次放大，然后经过稳压滤波电路实现裂纹信号的稳定输出并再次滤波，接着进入放大跟随电路，最后输出到单片机进行信号分析，解决了因信号精度不高而影响了单片机对信号的分析的问题。

附图说明

图1为本实用新型的电路连接原理图。

具体实施方式

为有关本实用新型的前述及其他技术内容、特点与功效，在以下配合参考附图1对实施例的详细说明中，将可清楚的呈现。以下实施例中所提到的结构内容，均是以说明书附图为参考。

下面将参照附图描述本实用新型的各示例性的实施例。

多层陶瓷电容器无损检测装置，所述声发射传感器采用的型号是AE204DH，检测到的裂纹信号经过低通放大电路、稳压滤波电路和放大跟随电路，低通放大电路负责将频率高于200KHz的噪声滤除，剩余无损检测装置需要检测的裂纹信号并进行一次放大，然后一次放大的裂纹信号经由稳压滤波电路来实现电路工作环境的稳定及再次滤波，然后将此时的裂纹信号经由放大跟随电路进行二次放大并传输至单片机进行信号分析；