[实用新型]测试系统有效
申请号: | 201921378806.9 | 申请日: | 2019-08-22 |
公开(公告)号: | CN211236050U | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 张利达 | 申请(专利权)人: | 北京集创北方科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 杨思雨 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 系统 | ||
本申请公开了一种测试系统,用于测试触控屏幕。该测试系统包括:信号发生器,用于提供可调节的干扰驱动信号;检测装置,用于检测并记录触控屏幕的技术参数;以及测试装置,包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部,电磁发生部与触控屏幕隔开,并与信号发生器连接以接收干扰驱动信号,电磁发生部提供围绕于触控屏幕的电磁干扰环境,其中,测试装置还包括绝缘部,触控屏幕被绝缘部支撑以与地实现电隔离。本实用新型公开的测试系统避免了其他干扰源对测试结果的影响,因此能够得到精确的测试结果;可以通过设置可调节的干扰驱动信号,在多种电磁干扰环境下得到技术参数变化情况。
技术领域
本实用新型属于触控技术领域,更具体地,涉及测试系统。
背景技术
触控作为一种方便、自然的人机交互方式,在工业、商业、民用以及军事等领域均得到了广泛的应用,例如手机,ATM机等。触控屏幕主要包括电阻式触控屏、电容式触控屏以及红外线式触控屏等,不论是哪一种触控屏幕,其在工作时,都容易受到各种电磁干扰源的影响,例如使电容式触控屏幕的报点率(report rate)、感应层的频率与驱动层的频率发生变化。典型的电磁干扰源来源于电源线以及其他电力设备等。然而随着触控技术的不断更新、应用的领域不断扩展,如何测量触控屏幕的抗电磁干扰能力还没有统一的测试方法与测试系统。
传统的测试抗电磁干扰能力的方法是直接在触控屏幕上方添加同频干扰源,由于该干扰源与触控屏幕的工作频率相同,因此该方法的测试结果能够明显示出触控屏幕的抗电磁干扰能力。上述针对触控屏幕抗电磁干扰能力的测试方法虽然简单易行,但是仍有以下不足:由于没有对触控屏幕所在空间的电磁环境进行设置,因此该方法的测试环境可能存在其他干扰源,导致测试结果不精确;仅采用了相同频率的干扰源,而省略了在其他频率干扰下的测试,因此该传统方法的测试结果不全面,不利于对触控屏幕的性能分析以及对不同触控屏幕之间的性能比较。
因此,期望进一步实现对电磁环境和干扰源的控制。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种测试系统,以实现对触控屏幕抗电磁干扰能力测试的电磁环境和干扰源的控制,从而在多种电磁干扰环境中得到精确的测试结果。
本实用新型实施例提供了一种测试系统,包括:信号发生器,用于提供可调节的干扰驱动信号;检测装置,用于检测并记录触控屏幕的技术参数;以及测试装置,包括至少部分由导体材料制成的电磁发生部,所述电磁发生部与所述触控屏幕隔开,并与所述信号发生器连接以接收所述干扰驱动信号,所述电磁发生部提供围绕于所述触控屏幕的电磁干扰环境,其中,所述测试装置还包括绝缘部,所述触控屏幕被所述绝缘部支撑以与地实现电隔离。
在一些实施例中,所述电磁发生部包括导体框架,其根据所述干扰驱动信号对所述触控屏幕产生第一电磁干扰环境。
在一些实施例中,所述导体框架的材料是金属、合金或者非金属的导体。
在一些实施例中,所述导体框架的形状为长方体框架、正方体框架、棱柱框架、梯台形框架和不规则立体框架中的任一种。
在一些实施例中,所述电磁发生部包括:导体面板,其根据所述干扰驱动信号对所述触控屏幕产生第二电磁干扰环境;以及绝缘支架,用于将所述导体面板支撑起一定的高度。
在一些实施例中,所述导体面板由金属、合金或者非金属导体构成。
在一些实施例中,所述导体面板的表面与所述触控屏幕相邻且平行地设置。
在一些实施例中,所述检测装置包括示波器、频谱仪或者频率计。
在一些实施例中,所述干扰驱动信号具有可调节的直流电压分量、可调节的交流电压分量以及可调节的频率。
在一些实施例中,所述测试系统还包括:屏蔽室,其内腔用于容置所述信号发生器、所述检测装置以及所述测试装置,所述屏蔽室用于屏蔽外部电磁干扰。
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