[实用新型]一种NTC芯片自动分选装置

说明书

本实用新型公开了一种NTC芯片自动分选装置，属于NTC芯片检测分选技术领域，主要解决的是现有NTC芯片检测分选方式劳动强度大、生产效率低的技术问题，所述装置包括测试仪、机台，所述机台上设有相互衔接的圆震动盘、直震动盘，所述直震动盘的输出端设有测试工位，所述测试工位内设有第一探针，所述直震动盘一侧的机台上设有第二探针和连接所述第二探针的直线运动机构，另一侧的机台上设有分料机构，所述直震动盘上方设有取料机构，所述第一探针、第二探针分别电性连接所述测试仪；所述分选装置还包括分别电性连接所述测试仪、直线运动机构、分料机构、取料机构的控制器。本实用新型可以降低劳动强度、提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及NTC芯片检测分选技术领域，更具体地说，它涉及一种NTC芯片自动分选装置。

背景技术

NTC芯片制作完成后需要检测，并根据检测的阻值精度进行分选为不同的等级。目前，NTC芯片检测分选是由手工完成的。即工人用探针接触NTC芯片的两端，电阻测试仪测量芯片阻值后与标准样件的阻值对比，从而判断被测芯片的阻值精度。工人根据阻值精度将芯片放入不同等级的料仓。这种检测分选方式劳动强度大、生产效率低。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本实用新型的目的是提供一种劳动强度低、生产效率高的NTC芯片自动分选装置。

本实用新型的技术方案是：一种NTC芯片自动分选装置，包括测试仪、机台，所述机台上设有相互衔接的圆震动盘、直震动盘，所述直震动盘的输出端设有测试工位，所述测试工位内设有第一探针，所述直震动盘一侧的机台上设有第二探针和连接所述第二探针的直线运动机构，另一侧的机台上设有分料机构，所述直震动盘上方设有取料机构，所述第一探针、第二探针分别电性连接所述测试仪；所述分选装置还包括分别电性连接所述测试仪、直线运动机构、分料机构、取料机构的控制器。

作为进一步地改进，所述测试工位为与NTC芯片相适配的定位槽，所述第一探针位于所述定位槽一侧壁，所述直震动盘上设有连接所述定位槽的导向槽。

进一步地，所述直线运动机构为直线气缸，所述第二探针通过连接板连接所述直线气缸的推杆。

进一步地，所述分料机构包括收料盘、连接所述收料盘的第一电机，所述收料盘上设有多个围绕所述收料盘的轴心均匀布置的收料槽，所述第一电机电性连接所述控制器。

进一步地，所述收料盘下方设有多个料仓，所述收料盘上方分别设有与各所述料仓位置对应的吹气件，所述吹气件电性连接所述控制器。

进一步地，所述取料机构包括吸嘴、滑杆、曲柄以及用于引导所述滑杆运动的导向件，所述滑杆的上下两端分别连接所述曲柄、吸嘴，所述机台上设有用于安装所述曲柄、导向件的支架，所述支架上设有连接所述曲柄的第二电机，所述第二电机电性连接所述控制器。

进一步地，所述导向件包括水平布置的第一导轨、竖直布置的第二导轨以及将所述第一导轨与第二导轨连接的滑块，所述第一导轨安装于所述支架，所述滑杆安装于所述第二导轨。

进一步地，所述机台上还设有电性连接所述控制器的回料震动盘，所述回料震动盘的两端分别衔接所述直震动盘的输出端、圆震动盘的输入端。

有益效果

本实用新型与现有技术相比，具有的优点为：本实用新型通过在机台上设置圆震动盘、直震动盘，在直震动盘上设置测试工位，NTC芯片通过圆震动盘输送到直震动盘，直震动盘将NTC芯片输送到测试工位，控制器控制第二探针下压NTC芯片使NTC芯片与第一探针有效接触，测试仪测量NTC芯片阻值并输出检测结果给控制器，控制器控制取料机构将NTC芯片取出并放到分料机构相应的位置进行分选，本实用新型可以自动完成NTC芯片的检测和分选，可以降低劳动强度、提高生产效率。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；