[实用新型]基于前置集束照明用于标定光学系统焦面的装置

说明书

本实用新型公开了一种基于前置集束照明用于标定光学系统焦面的装置。该装置包括目镜组、全对称结构的双高斯型物镜组，光线经双高斯型物镜组和目镜组形成焦面标定装置光路，所述光路靠近物镜组的一侧为焦面，所述光路靠近目镜组的一侧为出瞳，所述光线通过出瞳进入人眼进行目视观测。本实用新型可对不同光学系统、光学镜头的焦面进行高精度标定，本实用新型专利与现有技术相比，其显著优点为：光源照明均匀，集中照明反馈亮度高，对被测系统的孔径利用率高，测量装置成本低，实际操作简单、方便使用。

技术领域

本实用新型属于光学系统测试与装调领域，具体涉及一种可对光学系统焦面进行照明并对焦面标定的装置。

背景技术

光学技术的飞速发展，形成了强大的光学工业和光学技术领域。其中对于光学系统的校正、检验和研究在大多数情况下都要求精确测定其焦面的位置以便与分划板、刻度板、光敏材料、光接收器等组件的平面相重合。由于光学系统的类型、应用范围和特性的种类繁多，所以确定其焦面位置有着不同的方法和设备。

用于确定光学系统焦面位置的目视装置至今在光学仪器的制造与测试中，占据着重要的位置。但是由于现今光学系统质量的提高和镜头的通光量增强，都要求光学系统的焦面位置有着较高的标定和检验精度。一般常用于标定光学系统焦面的装置有：1)使用干涉仪与平面镜对光学系统建自准直干涉检验光路，通过干涉检验标出干涉仪镜头的焦点位置，此位置同样也是光学系统的焦点位置。此方法缺点在于必须要使用干涉仪进行干涉测量，需精密搭建自准直光路，专业知识要求高，操作繁琐；2)使用传统的目视装置高斯目镜对焦面直接进行观测。此方法缺点在于检测精度低，照明光源先经过分光镜再进入光学系统，大大降低了对焦面位置的光照度，导致目视清晰度下降，检测精度不高。

实用新型内容

本实用新型针对现有目视装置在确定光学系统焦面时，检测精度低、可靠性差、对焦面的光照度低等缺点，设计了一种结构简单，操作方便，检测精度、分辨力、亮度高的可对光学系统焦面进行外部照明并对焦面标定的装置。本项实用新型旨在解决现有光学系统焦面标定目视装置的检测精度低、分辨率差、对焦面光照度低等缺点。

本实用新型的具体技术方案如下：

本实用新型提供一种基于前置集束照明用于标定光学系统焦面的装置，包括目镜组、全对称结构的双高斯型物镜组，光线经双高斯型物镜组和目镜组形成焦面标定装置光路，所述光路靠近物镜组的一侧为焦面，所述光路靠近目镜组的一侧为出瞳，所述光线通过出瞳进入人眼进行目视观测。

更进一步地，所述目镜组的放大率为12.5倍。

更进一步地，还包括连接套筒和视度调节筒，所述双高斯型物镜组和目镜组通过连接套筒连接，所述视度调节筒预留有若干个视度的调节量。

更进一步地，还包括前置集束光源罩机构，所述前置集束光源罩机构设置在焦面标定装置靠近双高斯型物镜组的一侧，所述前置集束光源罩机构所形成的光照度区域包括光源叠加集中区域和光源外部区域。

更进一步地，所述前置集束光源罩机构包括若干个LED光源，分别设置于与光轴夹角为30°、60°的环形锥面上。

更进一步地，所述LED光源为白光，发散角为150°。

更进一步地，所述光源叠加集中区域为接近260mm的圆形。

本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型可对不同光学系统、光学镜头的焦面进行高精度标定，本实用新型专利与现有技术相比，其显著优点为：光源照明均匀，集中照明反馈亮度高，对被测系统的孔径利用率高，测量装置成本低，实际操作简单、方便使用。

附图说明

图1为焦面标定装置模型图。

图2为前置集束光源罩光源分布图。