[实用新型]ICT测试治具待测板定位机构有效
申请号: | 201921320274.3 | 申请日: | 2019-08-13 |
公开(公告)号: | CN210803532U | 公开(公告)日: | 2020-06-19 |
发明(设计)人: | 顾军新;陈日基 | 申请(专利权)人: | 达丰(上海)电脑有限公司;达功(上海)电脑有限公司;达人(上海)电脑有限公司;达利(上海)电脑有限公司;达群(上海)电脑有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 郑冲 |
地址: | 201610 上海市松*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | ict 测试 治具待测板 定位 机构 | ||
本实用新型提供一种ICT测试治具待测板定位机构,包括定位轴、套设在定位轴上的支撑套、及安装在支撑套中的弹性元件,所述定位轴的上端设有锥形头,所述弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触。由于本实用新型中定位轴利用其锥形头与待测板的定位孔相配合,实现对待测板的定位,且弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触,以利用弹性元件给定位轴施加向上的弹力,使得定位轴具有上下浮动的能力,在取放待测板时,即便在待测板出现相应的倾斜,或定位孔的孔径、孔距等发生相应变化时,锥形头仍能与定位孔实现良好的配合,避免两者间出现阻卡等现象,方便了待测板的取放工作,并提高了待测板的取放效率、及测试效率。
技术领域
本实用新型涉及一种定位机构,特别是涉及一种ICT测试治具待测板定位机构。
背景技术
ICT测试治具通过直接对在线器件电气性能的测试来发现制造工艺的缺陷和元器件的不良。组件类可检查出组件值的超差、失效或损坏,Memory类的程序错误等。对工艺类可发现如焊锡短路,组件插错、插反、漏装,管脚翘起、虚焊,PCB短路、断线等故障。测试的故障直接定位在具体的组件、器件管脚、网络点上,故障定位准确。采用过程控制的自动化测试,操作简单,测试快捷迅速,单板的测试时间一般在几秒至几十秒。
同时,现有技术中ICT自动化测试取放板时,待测板使用传统的金属固定式柱子固定,造成待测板取放困难,影响待测板取放速度。
实用新型内容
鉴于以上所述现有技术的缺点,本实用新型要解决的技术问题在于提供一种便于取放待测板的ICT测试治具待测板定位机构。
为实现上述目的,本实用新型提供一种ICT测试治具待测板定位机构,包括定位轴、套设在定位轴上的支撑套、及安装在支撑套中的弹性元件,所述定位轴的上端设有锥形头,所述弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触。
进一步地,所述弹性元件为弹簧,所述弹簧套设在定位轴上,且所述定位轴的上端设有上凸缘,所述支撑套的下端设有下凸缘,所述弹簧的上端与上凸缘相接触,所述弹簧的下端与下凸缘相接触。
进一步地,所述定位轴的下端安装有限位卡簧,且所述限位卡簧用于与支撑套的下端面相接触。
进一步地,所述限位卡簧为E型卡簧。
进一步地,所述定位轴的下端设有限位槽,所述限位卡簧安装在限位槽中。
进一步地,所述锥形头呈圆锥形。
进一步地,所述支撑套的上端设有外凸缘。
如上所述,本实用新型涉及的ICT测试治具待测板定位机构,具有以下有益效果:
在测试过程中,将待测板向下放入ICT测试治具,且待测板上的定位孔对准定位轴的锥形头,定位孔沿锥形头向下滑动,且在锥形头与定位孔配合好后,即锥形头的侧壁与定位孔的侧壁接触良好后,实现对待测板沿水平方向上的定位,使得待测板在水平方向上处于设定位置,从而能对待测板进行相应的测试,测试结束后,再将待测板向上取出。由于本实用新型中定位轴利用其锥形头与待测板的定位孔相配合,实现对待测板的定位,且弹性元件的上下两端分别与定位轴和支撑套相接触,以利用弹性元件给定位轴施加向上的弹力,使得定位轴具有上下浮动的能力,在取放待测板时,即便在待测板出现相应的倾斜,或定位孔的孔径、孔距等发生相应变化时,锥形头仍能与定位孔实现良好的配合,避免两者间出现阻卡等现象,方便了待测板的取放工作,并提高了待测板的取放效率、及测试效率。
附图说明
图1为本实用新型中ICT测试治具待测板定位机构的结构示意图。
图2为本实用新型中ICT测试治具待测板定位机构的俯视图。
图3为本实用新型中定位轴的结构示意图。
图4为本实用新型中定位轴的俯视图。
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