[实用新型]一种用于电子元器件的检测设备

说明书

本实用新型提供了一种用于电子元器件的检测设备，其能用于多种电子元器件的检测，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区和所述下料区之间设有输送装置，所述检测区设有检测装置，所述检测装置上安装有探针板，所述检测装置与控制器电控连接，所述检测装置的数量大于1个，所述探针板的种类大于1个，所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件检测技术领域，具体为一种用于电子元器件的检测设备。

背景技术

电子元器件例如钽电容或者MLCC，在生产完成后需要进行四参数测试、浪涌试验等检测来判断其是否合格，早期申请的一件申请号为2018222419675的专利介绍了一种电子元器件检测装置，其包括工作台、工作台上依次设有上料区、检测区、筛选区、下料区，各区域之间通过输送装置对放置有电子元器件的统一装载盘进行输送，在使用时放置于上料区的统一装载盘在上料装置的作用下放置于输送装置上，当到达检测区时，通过检测装置对电子元器件进行加电检测并将检测数据输入至控制器中，检测完成后进入筛选区，根据控制器中的检测数据控制筛选装置对电子元器件进行筛选，筛选完成后的电子元器件进入下料区，通过下料装置将统一装载盘取下，从而完成测试，采用这种检测装置只适用于一种壳号的电子元器件，如果需要检测其它壳号的电子元器件，就必须先更换检测装置上的探针板，再进行检测，难以流畅地对多品种的电子元器件进行检测，而且探针卡安装后还需要对位、调试等一系列操作，导致效率降低。

另外，早期申请的另一件申请号为2017210841962的专利介绍了一种电容自动测试装置，其包括上料装置、浪涌测试工位、测试工位、筛选工位、下料装置，上料装置和下料装置设有输送轨道，测试工位沿输送轨道方向设置，测试工位包括测试夹具和驱动装置，测试夹具上安装有探针，通过驱动装置控制探针下压在电容上进行测试；但是采用上述结构如果去检测其它壳号的电子元气件仍然需要先更换探针板，导致效率降低。

实用新型内容

针对现有电子元器件检测装置只适用于一种电子元器件的检测的问题，本实用新型提供了一种用于电子元器件的检测设备，其能用于多种电子元器件的检测，在同一批不同种的电子元器件检测时不需要更换探针板，效率高。

其技术方案是这样的：一种用于电子元器件的检测设备，其包括上料区、检测区和下料区，所述上料区和所述下料区之间设有输送装置，所述检测区设有检测装置，所述检测装置上安装有探针板，所述检测装置与控制器电控连接，其特征在于：所述检测装置的数量大于1个，所述探针板的种类大于1个，所述检测装置的数量大于等于所述探针板的种类。

其进一步特征在于：

所述检测装置分别通过支架安装于所述输送装置上方，所述检测装置包括第一上下移动机构，所述第一上下移动机构上连接有所述探针板，所述检测装置的数量等于所述探针板的种类，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备；

所述检测装置分别位于所述输送装置一侧，所述检测装置和所述输送装置之间安装有转移装置，装有电子元器件的统一装载盘通过所述转移装置在所述输送装置和所述检测装置之间转移；

所述转移装置包括由所述输送装置到所述检测装置的第一龙门架，所述第一龙门架上安装有第一横向移动机构，所述第一横向移动机构上连接有第二上下移动机构，所述第二上下移动机构上连接有第一取料机构；

所述检测装置包括安装于支架上的第一上下移动机构、安装于所述第一上下移动机构上的所述探针板和用于放置从所述输送装置上取下的统一装载盘的检测台，所述检测装置还包括用于读取或识别所述统一装载盘的信息的读取设备；

所述检测台包括用于承载所述统一装载盘的底板和输送轨道，通过所述输送轨道将所述载盘移入或者移出所述探针板底部，所述输送轨道垂直所述输送装置的输送方向设置；