[实用新型]一种精密微针测试模组有效

专利信息
申请号: 201921244968.3 申请日: 2019-08-02
公开(公告)号: CN211014399U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 张艳;李科锋;秦永昌 申请(专利权)人: 深圳市精泰达科技有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R31/28
代理公司: 深圳市卓科知识产权代理有限公司 44534 代理人: 邵妍;张金玲
地址: 518000 广东省深圳市龙华新区观*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 测试 模组
【权利要求书】:

1.一种精密微针测试模组,其特征在于:包括针模底板(1)、PCB转接板(2)、第一针板(3)、第二针板(5)、第三针板(6)、第四针板(7)、定位轴心(8)、微型双头测试探针(9)、螺丝(10);PCB转接板(2)安装在针模底板(1)的上方,第一针板(3)安装在PCB转接板(2)的上方;第二针板(5)安装在第一针板(3)的上方,第三针板(6)安装在第二针板(5)的上方,第四针板(7)安装在第三针板(6)的上方;第四针板(7)上固定有多根微型双头测试探针(9);第一针板(3)上固定有多根定位轴心(8)。

2.根据权利要求1所述的精密微针测试模组,其特征在于:所述螺丝(10)为带肩浮动螺丝(10)。

3.根据权利要求1所述的精密微针测试模组,其特征在于:针模底板(1)、PCB转接板(2)、第一针板(3)之间开设有多个相对齐的螺丝孔,螺丝孔内插入螺丝(10)。

4.根据权利要求1所述的精密微针测试模组,其特征在于:第二针板(5)、第三针板(6)、第四针板(7)上开设多个相对齐的定位销点孔(11)。

5.根据权利要求1所述的精密微针测试模组,其特征在于:微型双头测试探针(9)的型号为SP4526DD70。

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