[实用新型]一种用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装有效

专利信息
申请号: 201921221141.0 申请日: 2019-07-31
公开(公告)号: CN210180642U 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 庄明杰;吴仪温;张文其;田炜;廖盼;陆俊富;乐曹伟;付明磊 申请(专利权)人: 杭州永特信息技术有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 田相迪
地址: 311401 浙江省杭州市富*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光纤 损耗 测试 辅助 工装
【说明书】:

实用新型公开了一种用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装,包括底板、光纤缠绕部件和光纤固定部件,底板用于为光纤缠绕部件和光纤固定部件提供固定和支撑基础,光纤缠绕部件用于对待测光纤提供不同弯曲直径的弯曲操作,光纤固定部件用于固定待测光纤,其中,底板边缘具有倒角,底板上设有3条移动槽和2个对角固定孔。该用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装避免了光纤在单向绕圈时产生的自行扭转的现象,消除部分测试误差,提高测试精度。

技术领域:

本实用新型涉及光纤检测技术,具体讲是一种用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装。

背景技术:

光纤由于其抗干扰性能强,传输损耗低,质量轻,耐腐蚀,工作性能可靠等优点而被通信领域广泛使用。然而在成缆及使用过程中容易造成弯曲而导致光纤波导结构状态的改变,造成光纤传输部分的基模转变为辐射模,从而产生附加宏弯损耗,在ITU.IEC等标准中,均对光纤宏弯损耗做出了定义,特别是G657系列弯曲不敏感光纤,对其宏弯性能的精确测量,尤为重要。

目前光纤宏弯损耗的测试方法一般是单端或者双端固定,使用单一的绕柱,将光纤单向多次环绕在绕柱上,然后用物品固定光纤并通过PK2300光纤分析仪进行测量,然而实际操作过程中,由于光纤弯曲后自身的应力弹开,单向绕圈后产生的扭转现象,以及测试过程中的不稳定性,都会产生新的损耗,降低测量结果的可靠性,究其根本,是缺少可以与PK2300光纤分析仪配合使用的测试工装,从而导致在大规模生产测量中,存在效率及便捷性不足。

实用新型内容:

本实用新型所要解决的技术问题是,提供一种避免光纤在单向绕圈时产生的自行扭转的现象,消除部分测试误差,提高测试精度的用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装,该工装有效避免了侧压力,同时不使用外部干扰件固定缠绕形态,保持光纤自然松绕,保证了光纤测试状态的稳定,提高了检测效率。

本实用新型的技术解决方案是,提供一种用于光纤宏弯损耗测试的辅助工装,包括底板、光纤缠绕部件和光纤固定部件,底板用于为光纤缠绕部件和光纤固定部件提供固定和支撑基础,光纤缠绕部件用于对待测光纤提供不同弯曲直径的弯曲操作,光纤固定部件用于固定待测光纤,其中,底板边缘具有倒角,底板上设有3条移动槽和2个对角固定孔,移动槽沿底板长度方向平行间隔排列,光纤缠绕部件包括3组不同尺寸的中空芯柱和6个移动杆,其中同一组的芯柱包括两个尺寸相同的芯柱,芯柱与移动杆配合以半固定的方式与底板的移动槽连接,并且可在底板的移动槽中自由滑动,每条移动槽匹配对应一组芯柱;光纤固定部件包括定位杆、第一固定块、第二固定块和固定插销,其中定位杆有两根,定位杆位于底板一端中心并间隙设置,第二固定块通过固定插销与第一固定块固定连接,第一固定块底端对应两个定位杆的间隙设有可供待测光纤穿过的通孔,两个定位杆的间隙距离的中心位于通孔的中心轴线上。固定在同一个移动槽中的两个芯柱的间距是可以调整的。移动杆是圆柱体结构,其外径与芯柱的内径一致。

作为优选,芯柱内径与移动杆外径一致,移动杆从底板的移动槽中向上贯穿芯柱并用螺母锁固。

作为有效,同一移动槽中的两个芯柱外表面间距为400-500um。

作为优选,第二固定块通过螺栓紧固在底板上。

作为优选,沿设有定位杆的底板一端向着另一端的方向,三个移动槽中的芯柱的外径逐渐减小。

采用以上方案后与现有技术相比,本实用新型具有以下优点:

(1)本实用新型利用2个对角固定孔固定在光纤分析仪上,测试光纤宏弯损耗时,光纤在装置的两个芯柱上通过“8字”形缠绕,避免了光纤在单向绕圈时产生的自行扭转的现象,消除了部分测试误差,提高了测试精度。

(2)本实用新型在测试光纤宏弯损耗时,光纤两个芯柱上通过“8”字形缠绕,由于两个芯柱之间的间隙为400-500um,可以把光纤卡在间隙中,避免了侧压力,同时不使用外部干扰件固定缠绕形态,保持光纤自然松绕,保证了光纤测试状态的稳定。

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