[实用新型]一种基于空间分布的多探头天线测试设备

说明书

本实用新型公开了一种基于空间分布的多探头天线测试设备，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一夹角，所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头设置在所述环形支架上，所述第二探头设置在所述半环支架上。本实用新型以空间分布多探头的方式，大大提高了空间角度分辨率，实现从空间上将探头的距离扩大实现低耦。

技术领域

本实用新型涉及电磁测量技术领域，具体的说，是涉及一种基于空间分布的多探头天线测试设备。

背景技术

现有的多探头天线测试法实现过采样基本上都是在单个环形支架上均匀或者不均匀分布足够多的探头。随着当前测量需求的快速发展，测试系统需要的探头数量急剧增加。在有限空间的单个环形支架上安排大量的探头，将会面临诸多技术难题。其中之一就是探头安排过密产生的耦合问题，探头间的耦合效应严重影响测量系统的精确度。因此，如何恰当地布置大量探头以及如何实现探头间去耦，从而提高系统的测量精度和效率，是当前设计微波暗室等测量系统的技术难题之一。

发明内容

为了克服现有的技术的不足,本实用新型提供一种基于空间分布的多探头天线测试设备。

本实用新型技术方案如下所述：

一种基于空间分布的多探头天线测试设备，其特征在于，包括电波暗室、控制台、环形支架、半环支架、待测物转台、多个第一探头和多个第二探头，

所述环形支架与所述半环支架设置在所述电波暗室，所述控制台控制待测物转台旋转，所述半环支架的顶部与所述环形支架的顶部连接，所述环形支架与所述半环支架形成第一

所述待测物转台设置在所述环形支架的底部，所述待测物转台的顶部位于所述环形支架的中心，所述第一探头均匀设置在所述环形支架上，所述第二探头均匀设置在所述半环支架上。

优选的，其特征在于，所述电波暗室内壁设置有吸波棉，通过所述吸波棉吸收电磁波。

优选的，其特征在于，所述第一夹角为θ，0°＜θ≤360°。

优选的，其特征在于，所述第一夹角为90或者270°。

优选的，其特征在于，所述环形支架顶部的所述第一探头与所述半环支架顶部的所述第二探头的夹角为第二夹角。

优选的，其特征在于，所述环形支架的每一相邻的所述第一探头的夹角为第三夹角，所述第三夹角为所述第二夹角的一半。

优选的，其特征在于，所述半环支架的每一相邻的所述第二探头的夹角为第四夹角，所述第四夹角为所述第二夹角的一半。

优选的，其特征在于，所述第一探头和所述第二探头设置有去耦电路。

优选的，其特征在于，通过在所述第一探头和所述第二探头设置有超材料结构。

本实用新型的实质性效果：本实用新型以空间分布多探头的方式，将探头分别安装在一个环支架和一个半环支架上，通过这种方式大大提高了空间角度分辨率，实现从空间上将探头的距离扩大实现低耦合；本实用新型依据相邻探头耦合度相等的原理，采用软件校正以及硬件加载的方式实现去耦，解决环支架与半环支架顶部探头相距较近产生的耦合问题。

附图说明

图1为本实用新型一实施例的结构平面图；

图2为本实用新型一实施例探头在半环支架的结构分布图；

图3为本实用新型一实施例探头在环支架的结构分布图；