[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括基板、测试主板、芯片夹具、电源和显示屏，测试主板固定在所述基板上，测试主板分别与所述电源及显示屏通信连接。芯片夹具包括夹具本体，夹具本体水平设置，夹具本体上开设有若干个用于放置待测芯片的芯片槽，芯片槽的底部设有芯片测试板，芯片测试板与所述测试主板通信连接。每个芯片槽的顶部各设有一个用于固定待测芯片的芯片夹板，芯片夹板的一端与所述夹具本体铰接，另一端通过卡扣与夹具本体相卡接。本实用新型既可以对单个芯片进行测试，也可以同时对多个芯片进行测试，芯片夹具空间设计合理，容易进行相关组件的更换，芯片放入和取出方便，操作简单，稳固性强，测试效率高。

技术领域

本实用新型属于芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着VLSI电路的持续发展，芯片上集成了越来越多的半导体器件。这些器件不仅可以包括处理器，还可以包括存储器、输入/输出电路、各种转换电路等。随着芯片上器件集成度的提高，芯片输出管脚数目增多并且依据芯片用途不同而管脚定义、分布不同，为提高测试效率带来挑战。现有的芯片测试夹具通常是对整条内存条上的多个芯片同时进行测试，虽然整体测试效率高，但是无法针对单个的芯片进行测试。所以需要设计一款能够对单独的芯片进行测试且操作简单方便的芯片测试装置。

发明内容

针对上述问题，本实用新型的目的在于提供一种能够针对单个芯片进行测试的芯片测试装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：

一种芯片测试装置，包括基板、测试主板、芯片夹具、电源和显示屏，测试主板固定在所述基板上，所述测试主板分别与所述电源及显示屏通信连接。所述的芯片夹具包括夹具本体，所述的夹具本体水平设置，所述夹具本体上开设有若干个用于放置待测芯片的芯片槽，所述芯片槽的底部设有芯片测试板，所述芯片测试板与所述测试主板通信连接。每个芯片槽的顶部各设有一个用于固定待测芯片的芯片夹板，所述芯片夹板的一端与所述夹具本体铰接，另一端通过卡扣与所述夹具本体相卡接。

进一步地，所述的卡扣包括一体成型的按压部、连接部和卡钩，所述连接部的底部通过转轴与所述芯片夹板铰接，所述夹具本体在远离测试主板的一侧设有用于与所述卡钩相卡接的销轴，所述销轴转动安装在所述夹具本体上。

进一步地，所述的基板竖直设置，所述基板固定在水平桌面上，所述的电源固定在所述基板上并位于所述水平桌面的下方，所述的显示屏固定在水平桌面上并位于所述基板的正后方。

进一步地，所述芯片夹板的底面固设有用于压紧/脱离待测芯片的缓冲块。

进一步地，还包括绝缘座，所述的夹具本体通过绝缘座固定在所述测试主板上。

进一步地，所述基板在所述测试主板的相对侧设有键盘，所述键盘与所述显示屏通信连接。

本实用新型具有如下有益效果：提供一种芯片测试装置，该装置既可以对单个芯片进行测试，也可以同时对多个芯片进行测试，芯片夹具空间设计合理，容易进行相关组件的更换，芯片放入和取出方便，操作简单，稳固性强，制作成本低，测试效率高。

附图说明

图1为本实用新型的俯视结构示意图。

图2为本实用新型的正视结构示意图。

图3为芯片夹具各部件之间的连接示意图。

主要组件符号说明：1、基板；10、水平桌面；2、测试主板；3、芯片夹具；30、卡扣；301、按压部；302、连接部；303、卡钩；31、夹具本体；310、销轴；32、芯片槽；33、芯片测试板；34、芯片夹板；340、缓冲块；4、电源；5、显示屏；6、键盘；7、绝缘座。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式，对本实用新型做进一步说明。