[实用新型]一种集成电路测试装置有效
申请号: | 201921163103.4 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN210270079U | 公开(公告)日: | 2020-04-07 |
发明(设计)人: | 曾湖明;任明云 | 申请(专利权)人: | 深圳市万阳光电有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 广州市红荔专利代理有限公司 44214 | 代理人: | 黄国勇 |
地址: | 518100 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成电路 测试 装置 | ||
本实用新型公开了一种集成电路测试装置,包括机身、控制按钮、接线口、显示屏和测试口,所述机身内壁上设置有滑动槽,所述滑动槽内部内嵌有滑动块,所述滑动块固定连接有活动板,所述机身后方设置有控制按钮和接线口,所述机身正面右侧设置显示屏,所述机身正面左侧设置有测试口,所述测试口上设置有开关,所述开关底端固定连接有第一转动轴,所述第一转动轴上焊接有第一齿轮。本实用新型通过设置活动板、滑动槽和滑动块,当不使用该装置时,抽出活动板能够防止灰尘进入,避免造成接触不良的情况,通过设置第一齿轮、第一转动轴、第二齿轮和第二转动轴,通过隔板将其分隔,防止两组铜片相互接触。
技术领域
本实用新型涉及电路测试仪技术领域,具体为一种集成电路测试装置。
背景技术
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备,集成电路测试是保证集成电路性能和质量的关键手段之一,但是现在的电路测试仪在不经常使用的时候,接线口上会出现很多灰尘,导致下次使用时,造成接触不良而无法正常使用,并且测试口上一般通过铜片接通电路,但是在使用的时候会出现,两组铜片弯曲而贴合,造成短路现象,使该装置不能正常使用。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试装置,以解决上述背景技术中提出的长时间不使用接线口会容易粘灰尘和使用后铜片弯曲而贴合造成短路的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种集成电路测试装置,包括机身、控制按钮、接线口、显示屏和测试口,所述机身内壁上设置有滑动槽,所述滑动槽内部内嵌有滑动块,所述滑动块固定连接有活动板,所述机身后方设置有控制按钮和接线口,所述机身正面右侧设置显示屏,所述机身正面左侧设置有测试口,所述测试口上设置有开关,所述开关底端固定连接有第一转动轴,所述第一转动轴上焊接有第一齿轮,所述第一齿轮齿合连接有第二齿轮,所述第二齿轮右侧固定连接有第二转动轴,所述第二转动轴上固定连接有铜片。
优选的,所述滑动槽和滑动块均设置有四组,所述滑动槽与滑动块形状相同为等腰梯形,所述滑动槽与滑动块构成滑动式结构。
优选的,所述活动板内嵌于机身,且活动板形状为矩形。
优选的,所述第二转动轴右端套接有固定块,且限位块固定于测试口内壁上。
优选的,所述铜片之间均设置有隔板,所述隔板固定连接于测试口内壁上。
优选的,所述机身内壁左右两侧均设置有限位块。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:通过设置活动板、滑动槽和滑动块,使活动板可以进行伸缩,当不使用该装置时,抽出活动板能够防止灰尘进入,避免造成接触不良的情况,通过设置第一齿轮、第一转动轴、第二齿轮和第二转动轴,在不使用该装置时,能够同时控制两边的铜片向内侧转动,并通过隔板将其分隔,防止两组铜片相互接触,避免因为铜片弯曲贴合在一起,而使其短路的问题。
附图说明
图1为本实用新型的正视剖面结构示意图;
图2为本实用新型的背视剖面结构示意图;
图3为本实用新型的图2中A处放大结构示意图;
图4为本实用新型的侧视剖面结构示意图;
图5为本实用新型的图1中B处放大结构示意图。
图中:1、机身;2、滑动槽;3、滑动块;4、活动板;5、控制按钮;6、接线口;7、显示屏;8、测试口;9、开关;10、第一齿轮;11、第一转动轴; 12、第二齿轮;13、第二转动轴;14、铜片;15、隔板。
具体实施方式
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