[实用新型]双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置有效
申请号: | 201921148000.0 | 申请日: | 2019-07-19 |
公开(公告)号: | CN210168033U | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
发明(设计)人: | 包晓军;李琳;刘会涛;王育才;刘远曦;王永刚;林政汉 | 申请(专利权)人: | 珠海纳睿达科技有限公司 |
主分类号: | H04B1/00 | 分类号: | H04B1/00;H04B17/15;H04B17/29;H04L12/24;H04L12/26 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 伍志健 |
地址: | 519080 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双通道 变频 系统 相位 增益 温度 自动化 测试 装置 | ||
1.一种双通道变频系统的相位增益全温度自动化测试装置,适用于测试带有增加上下变频部分的双通道模拟TR组件;其中,所述双通道模拟TR组件具有用于外接频率源的高本振和低本振、两个用于发射和接收射频信号的A端口和B端口,以及用于中频信号输入和输出的中频端口组;
其特征在于,所述相位增益全温度自动化测试装置包括:
频率源,用于输出指定频率的信号;
变频器,用于上下变频信号的频率;
中频放大模块,用于放大中频信号;
大功率射频开关,分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口到所述变频器;
单刀多掷开关,分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的高本振和低本振到频率源;
中频开关模块,分别可操作地联接待测试的所述双通道模拟TR组件的中频端口组中的各个中频端口到所述中频放大模块;以及
网络分析仪,联接所述中频放大模块到所述变频器以形成检测通路,从而测试所述中频放大模块和所述变频器之间中频信号的增益相位;
其中,所述双通道模拟TR组件设置在温度可控的温箱内部。
2.根据权利要求1所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,所述大功率射频开关和所述变频器之间还设置有衰减器。
3.根据权利要求1所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,所述变频器内还设置有负载电阻,以测试所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口之间的隔离程度。
4.根据权利要求1所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,所述中频放大模块是由一组中频放大器串接而成。
5.根据权利要求1所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,所述中频开关模块是由一组单刀多掷开关并接而成。
6.根据权利要求1所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,所述网络分析仪的端口至少有两个,并且所述网络分析仪的端口分别联接到中频放大器,以分别测试所述双通道模拟TR组件的A端口和B端口的发射增益相位和接收增益相位。
7.根据权利要求1-6中任一所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,待测试的所述双通道模拟TR组件的数量范围是1-8,且数量上限与所述单刀多掷开关的掷数相等。
8.根据权利要求7中所述的相位增益全温度自动化测试装置,其特征在于,待测试的所述双通道模拟TR组件的数量与所单刀多掷开关的掷数都是8。
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