[实用新型]一种电子设备及其SIM卡盖结构组件有效
申请号: | 201921147885.2 | 申请日: | 2019-07-19 |
公开(公告)号: | CN210328277U | 公开(公告)日: | 2020-04-14 |
发明(设计)人: | 游志恒 | 申请(专利权)人: | 广东小天才科技有限公司 |
主分类号: | H05K5/02 | 分类号: | H05K5/02 |
代理公司: | 广州德科知识产权代理有限公司 44381 | 代理人: | 万振雄;陈晓妍 |
地址: | 528850 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子设备 及其 sim 结构 组件 | ||
本实用新型公开了一种电子设备及其SIM卡盖结构组件,该SIM卡盖结构组件包括:卡盖主体,所述卡盖主体上开设有第一通孔;压力平衡膜,所述压力平衡膜设于所述卡盖主体的内部且位于所述第一通孔上方。本申请中,在SIM卡盖结构组件的卡盖主体上开设有贯穿的第一通孔,并在卡盖主体内部、第一通孔上方设置压力平衡膜,通过这种在SIM卡盖结构组件上开设第一通孔并设置压力平衡膜的结构,使原本封闭的SIM卡盖结构组件具有一定透气性,能够用于实现电子设备内外气压的平衡,增强电子设备的透气性。
技术领域
本发明涉及电子设备技术领域,尤其涉及一种电子设备及其SIM卡盖结构组件。
背景技术
电子设备(如电话手表、智能手机等)通常会在设备外壳的四个侧边上开孔、设膜,以实现设备内部与外界环境之间的气压平衡。但实际使用时,这些用于平衡电子设备内外气压的开孔容易被异物或者汗水堵住,造成电子设备内外气压不平衡,进而引起扬声器声音小和振音等一系列问题。此外,由于是在设备外壳的侧边开孔,这对产品外壳完整性也有一定影响。
发明内容
本发明的目的是提供一种电子设备及其SIM卡盖结构组件,以解决设备外壳侧边的开孔遇堵塞导致设备内外气压不平衡的问题、以及侧边开孔影响外壳完整性的问题。
第一个方面,本实用新型提供一种SIM卡盖结构组件,包括:
卡盖主体,所述卡盖主体上开设有第一通孔;
压力平衡膜,所述压力平衡膜设于所述卡盖主体的内部且位于所述第一通孔上方。
进一步地,所述SIM卡盖结构组件还包括设于所述压力平衡膜上方的固定支撑板,所述固定支撑板上设有第二通孔,所述第二通孔的开孔位置与所述第一通孔的开孔位置对应,所述第二通孔的开孔面积大于或者等于所述第一通孔的开孔面积。
进一步地,所述SIM卡组件还包括热压层,所述热压层位于所述压力平衡膜周围,所述热压层使所述固定支撑板预压在所述压力平衡膜上方,且所述固定支撑板对所述压力平衡膜的预压量为0.08-0.15mm。
进一步地,所述固定支撑板为玻璃纤维板,所述热压层采用热压胶,所述预压量为0.1mm。
进一步地,所述SIM卡盖结构组件还包括设于所述卡盖主体内部的防尘网,所述防尘网设于所述压力平衡膜下方。
进一步地,所述SIM卡盖结构组件还包括设于所述卡盖主体内部的金属防护层,所述金属防护层设于所述压力平衡膜和所述防尘网之间,或者所述金属防护层设于所述防尘网与所述卡盖主体之间。
进一步地,所述卡盖主体内部围绕所述第一通孔向上延伸形成第一凹台,所述SIM卡盖结构组件还包括设于所述第一凹台中的防尘网双面胶,所述防尘网粘接固设于所述防尘网双面胶上方,所述防尘网双面胶上设有第三通孔,所述第三通孔的开孔位置与所述第一通孔的开孔位置对应,所述第三通孔的开孔面积大于或者等于所述第一通孔的开孔面积;
所述第一凹台向外、向上延伸还形成有第二凹台,所述金属防护层设于所述防尘网上方且位于所述第二凹台中,所述金属防护层为钢片,且所述钢片上开设有若干通风小孔,所述通风小孔的位置对应于所述第一通孔的开孔位置;所述压力平衡膜设于所述金属防护层上方;
所述第二凹台向外、向上延伸还形成有第三凹台,所述热压层设于所述位于所述第三凹台中,所述固定支撑板设于所述热压层和所述压力平衡膜上。
进一步地,所述SIM卡盖结构组件还包括设于所述固定支撑板上方的隔热贴,所述隔热贴上设有第四通孔,所述第四通孔的开孔位置与所述第一通孔的开孔位置对应,所述第四通孔的开孔面积大于或者等于所述第一通孔的开孔面积。
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