[实用新型]一种反射面位于静区上方的紧缩场天线测量系统

权利要求书

1.一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：包括底座（1）、骨架（2）、可调背架（3）、反射面（4）、馈源（5）、馈源转台（6）、被测天线（7）和天线支架（8），反射面（4）通过可调背架（3）固定在骨架（2）上且位于紧缩场静区的正上方，馈源（5）和馈源转台（6）安装在骨架（2）的横梁上且位于紧缩场静区的侧方且位于紧缩场静区的上方，被测天线（7）和天线支架（8）固定在底座（1）上。

2.根据权利要求1所述的一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：所述的被测天线（7）水平放置，所述的被测天线（7）发射的电磁波方向为垂直向上。

3.根据权利要求1所述的一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：所述的可调背架（3）通过可调螺杆，实现反射面（4）轴线方向与被测天线（7）发射的电磁波方向平行。

4.根据权利要求1所述的一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：所述的馈源转台（6）具有三个方向的调整装置，可将馈源（5）的相位中心调整至反射面（4）的旋转抛物面（11）的焦点，调整后的位置误差优于±0.1mm。

5.根据权利要求1所述的一种紧缩场天线测量系统，其特征在于：所述的馈源转台（6）具有切换馈源（5）极化功能，可将馈源（5）进行水平极化和垂直极化的自由切换，馈源转台（6）调整角度精度优于±0.01°。