[实用新型]一种晶圆缺陷检测装置有效

专利信息
申请号: 201921087402.4 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN210376165U 公开(公告)日: 2020-04-21
发明(设计)人: 王宜 申请(专利权)人: 江苏斯米克电子科技有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N23/00
代理公司: 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 代理人: 黄冠华
地址: 214000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 缺陷 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种晶圆缺陷检测装置,包括密封箱(1)与晶圆本体(5),其特征在于:所述密封箱(1)内部架设有传动带(4),所述传动带(4)的两端贯穿密封箱(1)的侧壁到达密封箱(1)的外部,所述密封箱(1)的两侧表面通过螺栓固定有密封盖板(3),所述密封箱(1)的内底面通过螺栓固定有伸缩杆(10),所述伸缩杆(10)输出轴侧表面架设有驱动电机(11),所述伸缩杆(10)的输出轴上套接有转盘(12),所述晶圆本体(5)放置在转盘(12)的上表面,所述晶圆本体(5)的上方位于密封箱(1)的内壁架设有辅助架(6),所述辅助架(6)的底面固定有X光测量头(7),所述X光测量头(7)的一侧位于辅助架(6)的底面设架设有摄像头(8),所述辅助架(6)的两侧位于密封箱(1)的内表面架设有补光板(9)。

2.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述密封盖板(3)为空心构件,密封盖板(3)由两个U型构件相互嵌合拼接构成。

3.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述密封箱(1)为空心的长方体构件,所述密封箱(1)的一侧表面通过转轴固定有密封门(2)。

4.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述转盘(12)的下端侧表面开设有齿轮轮齿,所述驱动电机(11)的输出轴上套接有齿轮盘,所述驱动电机(11)通过齿轮盘与转盘(12)保持啮合连接。

5.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述辅助架(6)为长方体构件,所述摄像头(8)均匀的架设在辅助架(6)的下端,两个所述摄像头(8)之间位于辅助架(6)的底面架设有第二补光灯(13)。

6.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述补光板(9)设有两条,所述补光板(9)以倾斜的角度固定在密封箱(1)的内壁,两个所述补光板(9)以辅助架(6)为对称轴对称。

7.根据权利要求1所述的一种晶圆缺陷检测装置,其特征在于:所述传动带(4)设有两条,两条所述传动带(4)对称架设在伸缩杆(10)的两侧。

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