[实用新型]一种通断开关寿命的检测装置

说明书

本实用新型公开了一种单火线通断开关寿命的检测装置，包用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；检测模块，用于检测驱动模块输出的电平。本实用新型通过将通断开关接入驱动模块，模拟实际应用电路，利用单片机对驱动模块输出的电平进行判断，检测出通断开关在实际电路运用中的开关次数（即使用寿命），检测结果贴合实际运用下通断开关的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及一种通断开关寿命的检测装置，适用于通断开关检测技术领域。

背景技术

一般继电器开关寿命测试都是出厂时候在额定规定条件下测试完成，出厂单独检测继电器裸元器件开关次数，但是实际在灯控开关中继电器是结合实际应用电路而工作的，所以继电器在实际的工作电路中的开关次数和出厂测试的裸元器件开关次数是有着本质区别的，单独对继电器的开关次数进行检测的结果属于理想状态，并不能真正检测出继电器针对实际应用电路条件下去测试开关次数，得出实际使用时继电器的开关次数。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种通断开关寿命的检测装置。

实现本实用新型目的的技术解决方案为：一种单火线通断开关寿命的检测装置，包括：

用于接收检测模块发送的弱电信号实现与电源闭合或断开的通断开关；

用于与通断开关连接模拟实际电路并输出电平的驱动模块；

检测模块，用于检测驱动模块输出的电平。

进一步地，所述检测模块包括：

按键电路，用于操控显示屏和单片机；

单片机，用于发送弱电信号和接收电平且对接收的电平进行判断；

显示模块，用于对单片机的判断结果进行显示；

电源模块，用于对按键电路、单片机、显示模块和晶体模块进行供电；

晶体模块，用于为单片机提供频率稳定且电平匹配的方波时钟脉冲信号。

进一步地，所述通断开关为弱电控制强电的开关装置。

进一步地，所述驱动模块为将强电转换弱电的驱动装置。

本实用新型与现有技术相比，其显著优点在于：将通断开关接入驱动模块，模拟实际应用电路，利用单片机对驱动模块输出的电平进行判断，检测出通断开关在实际电路运用中的开关次数（即使用寿命），检测结果贴合实际运用下通断开关的使用寿命。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面对本实用新型实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他附图。

图1是本实用新型检测装置结构示意图；

图2是本实用新型检测装置另一实施结构示意图；

图3是本实用新型单片机结构示意图；

图4是本实用新型显示模块结构示意图；

图5是本实用新型晶体模块结构示意图；

图6是本实用新型电源模块结构示意图；

图7是本实用新型按键电路结构示意图。

图中：1、通断开关；2、驱动模块；3、检测模块；4、指示灯。

具体实施方式