[实用新型]一种用于教学的光学综合测量平台

权利要求书

1.一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，包括底座与内盘结构、设于该底座与内盘结构一侧的光源结构，以及设于该底座与内盘结构另一侧的显像结构；

所述底座与内盘结构包括底座转轴机构、内转盘机构和载物台机构，其中，所述底座转轴机构包括底座及调平旋钮(1)和设于该底座及调平旋钮(1)上的中间转轴(12)，所述内转盘机构包括第二转臂内盘(13)，该第二转臂内盘(13)套设于所述中间转轴(12)上，所述载物台机构包括设于所述中间转轴(12)顶部的可拆卸载物台(8)；

所述光源结构包括可拆卸式光源(2)和第一转臂(3)，所述可拆卸式光源(2)通过第一转臂(3)与所述底座及调平旋钮(1)连接；

所述显像结构包括可拆卸式探头或像屏(4)和第二转臂(5)，所述可拆卸式探头或像屏(4)通过所述第二转臂(5)与所述第二转臂内盘(13)固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述中间转轴(12)为三级阶梯轴，自下而上分别为一级阶梯轴、二级阶梯轴和三级阶梯轴，一级阶梯轴直径最大，三级阶梯轴直径最小；一级阶梯轴最下端与底座及调平旋钮(1)上端面上圆形凹槽固定连接，所述二级阶梯轴安装有一块半圆形挡板。

3.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述内转盘机构包括刻度值(6)和内盘读数装置(7)，所述刻度值(6)呈环状设于所述内盘读数装置(7)外圆环部分。

4.根据权利要求1或3所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述内转盘机构包括第一转臂内盘(14)，该第一转臂内盘(14) 套设于所述中间转轴(12)，其外圆周通过内盘固定螺丝(11)与所述第一转臂(3)固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述载物台机构包括载物台调平旋钮(9)，该载物台调平旋钮(9)为多个，均匀于所述可拆卸载物台(8)的外圆周上。

6.根据权利要求1或5所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述载物台机构包括载物台固定螺丝(10)，该载物台固定螺丝(10)垂直于所述中间转轴(12)设置。

7.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述第一转臂(3)为倒L型结构，该倒L型结构最下端设有接近所述底座及调平旋钮(1)上端面的圆台，中部开有螺孔。

8.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述可拆卸式光源(2)包括光源与导轨，所述导轨通过螺栓固定连接在所述第一转臂(3)上端，导轨为套筒结构，便于光线集中，所述光源通过螺栓安装在导轨一端。

9.根据权利要求8所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述可拆卸式光源(2)为半导体激光器、LED灯或白炽灯。

10.根据权利要求1所述的一种用于教学的光学综合测量平台，其特征在于，所述第二转臂(5)为倒L型结构架和可拆卸延长臂，其中，倒L型结构架下端部设有螺纹孔，通过螺栓将所述第二转臂(5)与第二转臂内盘(13)固定连接。