[实用新型]芯片粘接界面剪切强度测试装置有效
申请号: | 201920931528.9 | 申请日: | 2019-06-20 |
公开(公告)号: | CN210626295U | 公开(公告)日: | 2020-05-26 |
发明(设计)人: | 吴光华;蒋美仙;陈勇;兰秀菊;陈燚 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | G01N19/04 | 分类号: | G01N19/04 |
代理公司: | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人: | 王兵;黄美娟 |
地址: | 310014 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 芯片 接界 剪切 强度 测试 装置 | ||
1.芯片粘接界面剪切强度测试装置,其特征在于:包括机架(1)、基座(2)、真空吸附平台(4)、被测器件(6)、推刀(7)和紧固件(9);
机架(1)底部设有基座(2),基座(2)上设有真空吸附平台(4),真空吸附平台(4)内设有真空气道(5),真空气道(5)连接真空气管(3);真空吸附平台(4)吸附固定被测器件(6);
推刀(7)连接在机架(1)的上部的一个驱动装置,该驱动装置驱动推刀(7)沿机架(1)上下、左右移动,被测器件(6)设置在推刀(7)的行进路径上,推刀(7)抵触被测器件(6)以测试被测器件(6)的界面剪切强度;紧固件(9)通过螺杆(8)与基座(2)连接,紧固件(9)夹持固定被测器件(6)。
2.根据权利要求1所述的芯片粘接界面剪切强度测试装置,其特征在于:真空吸附平台(4)内部设有若干真空气道,吸附柔性化被测器件(6)。
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