[实用新型]光学实验暗箱有效

专利信息
申请号: 201920882298.1 申请日: 2019-06-12
公开(公告)号: CN210515856U 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 李亚妮;李超;董攀浩;王红霞 申请(专利权)人: 北京轩宇空间科技有限公司
主分类号: G09B23/22 分类号: G09B23/22
代理公司: 北京康盛知识产权代理有限公司 11331 代理人: 张宇峰
地址: 100010 北京市顺义*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 光学 实验 暗箱
【说明书】:

本申请涉及一种光学实验暗箱,包括:箱体,由不透光材料制成,所述箱体内部限定有容置腔;隔板,由不透光材料制成,设置在所述箱体内部,被配置为将所述容置腔完全隔断为第一容置腔与第二容置腔,所述第一容置腔,被配置为容置光学元器件,所述第二容置腔,被配置为容置光学测试器件;所述箱体的第一侧板设置有第一入光孔,光源发出的光线由所述第一入光孔射入所述第一容置腔中;所述隔板上设置有第二入光孔,光线在所述第一容置腔中经过光学元器件后由所述第二入光孔进入所述第二容置腔。隔板可以有效的阻挡杂散光进入光学测试器件的存放空间,避免了光学测试器件受到杂散光的干扰,提高了光学实验的测试精度。

技术领域

本申请涉及光学技术领域,例如涉及一种光学实验暗箱。

背景技术

目前,光学实验暗箱为光学实验提供环境和硬件基础,通常需要将光学元器件和光学测试器件安装在光学实验暗箱中,因而暗箱的结构对光学实验的精度有着重要影响。在实现本公开实施例的过程中,发现相关技术中至少存在如下问题:由于光学元器件和光学测试器件安装在同一个箱体内,光学测试器件会受到杂散光的影响,从而影响测试精度。

发明内容

为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解,下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述,也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围,而是作为后面的详细说明的序言。

本公开实施例提供了一种光学实验暗箱,以解决杂散光影响测试精度的问题。

在一些实施例中,所述光学实验包括:暗箱箱体,由不透光材料制成,内部限定有容置腔,被配置为容置光学元器件和光学测试器件;和

隔板,由不透光材料制成,设置在所述箱体内部,被配置为将所述容置腔完全隔断为第一容置腔与第二容置腔,所述第一容置腔,被配置为容置光学元器件,所述第二容置腔,被配置为容置光学测试器件;

所述箱体与所述隔板相对的一个侧壁上设置有第一入光孔,被配置为光源发出的光线由此射入所述第一容置腔中;

所述隔板上设置有第二入光孔,被配置为光线在第一容置腔中经过光学元器件后由此从进入第二容置腔。

本公开实施例提供的光学实验暗箱可以实现以下技术效果:通过隔板将暗箱内部空间分割为两个空间,分别放置光学元器件和光学测试器件,隔板可以有效的阻挡杂散光进入光学测试器件的存放空间,避免了光学测试器件受到杂散光的干扰,提高了光学实验的测试精度。

以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的,不用于限制本申请。

附图说明

一个或多个实施例通过与之对应的附图进行示例性说明,这些示例性说明和附图并不构成对实施例的限定,附图中具有相同参考数字标号的元件示为类似的元件,附图不构成比例限制,并且其中:

图1是本公开实施例提供的光学实验暗箱结构示意图;

图2是本公开实施例提供的光学实验暗箱移开顶板后的箱体结构示意图。

附图标记:

10:箱体;11:第一侧板;12:第二侧板;13:底板;14:顶板;15:第三侧板;16:第四侧板;20:隔板;30:第一入光孔;40:第二入光孔;50:安装部;51:外置光源安装固定结构;52:外置测试器件安装结构;60:安装板;61:安装孔;70:第一视窗;80:第二视窗;90:连接件紧固孔;100:接线孔;110:凹槽。

具体实施方式

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