[实用新型]一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托有效
申请号: | 201920879695.3 | 申请日: | 2019-06-12 |
公开(公告)号: | CN210514132U | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 赵嘉峰;高筱 | 申请(专利权)人: | 费勉仪器科技(南京)有限公司;费勉仪器科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01N23/2273 | 分类号: | G01N23/2273;G01N23/2204 |
代理公司: | 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 | 代理人: | 冯子玲 |
地址: | 210000 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 xps 检测 系统 原位 反应 样品 | ||
本实用新型提供了一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托,用于解决现有技术中在XPS检测系统和原位反应系统之间的样品接口不一,需要在XPS检测系统和原位反应系统之间人工传递样品操作复杂、容易污染样品的技术问题,包括:XPS检测系统样品架、转接托、压片和样品托架;所述转接托设置凹槽,可拆卸地固定于所述XPS检测系统样品架上;所述压片固定至所述转接托,所述压片设置为,当所述样品托架插入所述凹槽时,所述压片压紧所述样品托架,将所述样品托架固定在所述凹槽中。实施本实用新型的技术方案可实现在不同的XPS检测系统或者原位反应系统之间进行进行样品传递的技术效果。
技术领域
本实用新型涉及XPS检测领域,特别涉及一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托。
背景技术
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以通过测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度为纵坐标作出出光电子能谱图,根据光电子能谱图,可以判断待测物的组成。广泛应用于分析无机化合物、合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸、墨水、木材、化妆品、牙齿、骨骼、移植物、生物材料、油脂、胶水等。
原位反应是一种新兴的合成技术,其工艺简单,材料性能优异、产品成本低、可近终形成型等而成为当今复合材料研究领域的前沿课题之一。该技术的原理是根据材料设计的要求,选择适当的反应剂(气相、液相或粉末固相),在适当的温度下,借助于基体金属或合金和它们之间的化学反应,原位生成尺寸十分细小,分布均匀的增强相。
但是一方面由于X射线作为一种具有高辐射强度的电磁波,若人体长期暴露在X射线之下,对人体的伤害极大,易于诱发如癌症等严重疾病,另一方面在原位反应过程中会使用高温高压的手段进行处理,而处于高温状态的样品作为一种危险源,可能会在实验室意外中对人体造成伤害。故一般在XPS检测与原位反应中一般在隔离室内采用自动化手段对样品进行操作。
现阶段,虽然在XPS检测与原位反应系统中已经基本实现了自动化操作,但由于XPS检测系统与原位反应系统之间的样品接口不一,导致在不同的XPS检测系统或者原位反应系统之间转移样品时不得不人工进行转移,这样一方面不可避免的导致人体暴露在X射线的辐射之下,不利于人体健康,另一方面在转移的过程中容易造成样本污染,故如何克服在不同的XPS检测系统或者原位反应系统之间的样品接口不一的弊端,从而实现在不同的XPS检测系统或者原位反应系统之间进行样品的传递成为该领域一个亟待解决的问题。
实用新型内容
为了解决上述技术问题,本实用新型中披露了一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托,本实用新型的技术方案是这样实施的:
一种可用于XPS检测系统和原位反应系统的样品托包括:XPS检测系统样品架、转接托、压片和样品托架;所述转接托设置凹槽,可拆卸地固定于所述XPS检测系统样品架上;所述压片固定至所述转接托,所述压片设置为,当所述样品托架插入所述凹槽时,所述压片压紧所述样品托架,将所述样品托架固定在所述凹槽中。
优选地,所述样品托架包括抓取端,所述抓取端设置抓取结构。
优选地,所述抓取结构为圆孔。
优选地,所述XPS检测系统样品架和所述转接托设置螺孔,所述转接托通过螺钉或螺栓固定于所述XPS检测系统样品架上。
优选地,所述压片的材料为耐高温、低蒸气压的弹性金属材料,为以下各项中的至少一者:铍铜、铁钴镍合金、镍铬合金、镍铬钼合金或蒙乃尔合金。
优选地,所述压片点焊在所述转接托上。
优选地,所述XPS检测系统样品架设置插槽,所述插槽贯穿所述XPS检测系统样品架。
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