[实用新型]一种改良万用表

说明书

本实用新型提供的一种改良万用表，包括外壳、芯片以及芯片外置电路，所述外壳包括面板上的电流档插孔和公共端COM插孔，所述电流档插孔数量为一个且档位为安培、毫安、微安；所述芯片外置电路包括mos场效应管，所述用于电流档插孔连接到mos场效应管的漏极，所述mos场效应管的栅级连接到芯片。本实用新型提供的一种改良万用表，将mos场效应管与ADC芯片进行创造性地结合使用，代替原来作为切换电流档位的普通开关，对电路结构和电流档插孔进行了简化。

技术领域

本实用新型涉及一种精密测量领域，特别是涉及一种改良万用表。

背景技术

万用表是一种多用途电子测量仪器,一般万用表可测量直流电流、直流电压、交流电流、交流电压、电阻等。现有的万用表在测量电流前要先判断电路中待测点的电流值，根据电流大小选择合适的插孔。如果无法确定待测点的电流大小，则先用大电流档测试，然后根据实测情况选择合适的电流档位及表笔插孔。这种使用方式需要操作人员的具有一定电工常识，若电流档与实际电流不适应还重新需要切换表笔插孔，操作较为繁琐。同时多个表笔插孔使得万用表操作面板复杂，不同型号和功能的万用表的表笔插孔的数量和排列存在差异，且表笔插孔旁的注记容易在使用过程中褪色，以上原因都会使得操作人员容易将不同档位的插孔混用，进而对万用表电路造成损坏。此外，现有万用表的电流档一般是采用一个或多个开关进行切换档位，一般材料所制成开关存在较大的接触电阻，在通过大电流时易功率过载而损坏，且使用有过载保护的继电器作为开关则使得万用表体积庞大不利于携带，同时制造成本较高。

实用新型内容

综上所述，要解决的技术问题如下：

1、传统万用表插孔过多操作繁琐的问题；

2、一般开关具有接触电阻，对电路安全存在威胁。

为了解决上述问题，本实用新型提供了一种改良万用表，将mos场效应管与ADC芯片进行创造性地结合使用，代替原来作为切换电流档位的普通开关，对电路结构和电流档插孔进行了简化。本实用新型的技术方案为：一种改良万用表，包括外壳、芯片以及芯片外置电路，所述外壳包括面板上的电流档插孔和公共端COM插孔，所述电流档插孔数量为一个且档位为安培、毫安、微安；所述芯片外置电路包括mos场效应管，所述用于电流档插孔连接到mos场效应管的漏极，所述mos场效应管的栅级连接到芯片。

进一步的，采样电阻包括第一电阻和第二电阻，第一电阻并联连接在mos场效应管的漏级和源极，第二电阻的一端分别与第一电阻的一端、mos场效应管的源极连接，且第一电阻电阻值至少大于第二电阻电阻值一个数量级。

进一步的，芯片外置电路还包括过载保护装置、限幅电路，过载保护装置的一端连接到电流档插孔，另一端分别连接到采样电阻R1、芯片、mos场效应管的漏级，限幅电路由两个相反方向的二极管并联组成，且限幅电路并联在电流档插孔与COM插孔之间；

进一步的，芯片是具有模数转换功能的ADC芯片，用于当检测采样电阻两端电压高于或低于预定的阈值时，产生使得mos场效应管导通或截止的控制信号，使得该采样电阻将被短路。

进一步的，过载保护装置是熔断器。

进一步的，mos场效应管是N沟道mos场效应管。

进一步的，芯片具有供N沟道mos场效应管的栅级连接的IO口，当芯片检测到采样电阻两端的电压低于阈值A，则IO口输出低电平；当芯片所检测到采样电阻两端的电压高于阈值B，则IO口输出高电平。