[实用新型]一种半导体VREF基准值测试设备

说明书

本实用新型公开了一种半导体VREF基准值测试设备，涉及半导体检测技术领域，为解决现有技术中的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个。

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，具体为一种半导体VREF基准值测试设备。

背景技术

半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的；而参考电压是指电路中一个与负载、功率供给、温度漂移、时间等无关，能保持始终恒定的一个电压。参考电压可以被用于电源供应系统的稳压器，模拟数字转换器和数字模拟转换器，以及许多其他测量、控制系统。参考电压的大小在不同的应用中有所不同，例如在一般的计算机电源供应系统里，参考电压误差不大于其标称值附近百分之一至百分之几间，而实验室的参考电压标准则拥有更高的、以百万分率度量的稳定性和精确度。

但是，现有的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种半导体VREF基准值测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体VREF基准值测试设备，以解决上述背景技术中提出的半导体参考电压的检测程序较为繁琐，需要多种仪器配合检测计算，测试效率较低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体VREF基准值测试设备，包括固定底座，所述固定底座的上方设置有控制台，所述控制台的外表面设置有数值显示屏，所述数值显示屏的一侧设置有控制按键，所述数值显示屏的另一侧设置有第一调节旋钮，所述第一调节旋钮的一侧设置有第二调节旋钮，所述第二调节旋钮的上方设置有电源开关，所述控制台的上方设置有第一检测台，所述第一检测台的一侧设置有第二检测台，所述第一检测台和第二检测台的一侧均设置有外接放电孔，所述第一检测台和第二检测台的另一侧均设置有移动轨杆，且移动轨杆有两个，所述移动轨杆的上方设置有控制滑块，且控制滑块有两个，所述控制滑块的一侧设置有支撑轴，所述支撑轴的下方设置有调节轨道，所述调节轨道的下方设置有第一检测探针，所述第一检测探针的一侧设置有第二检测探针，所述移动轨杆的下方设置有元件检测槽，所述元件检测槽的内部设置有夹具横杆，所述夹具横杆的上方设置有元件固定块，所述元件固定块的外侧设置有元件夹板，且元件夹板有四个。

优选的，所述控制台与固定底座通过螺栓连接，所述控制台与第一检测台和第二检测台固定连接。

优选的，所述第一检测台和第二检测台与移动轨杆通过卡槽连接，所述移动轨杆与控制滑块通过滑槽滑动连接。

优选的，所述控制滑块与支撑轴焊接连接，所述支撑轴与调节轨道通过螺栓连接。

优选的，所述夹具横杆与第一检测台和第二检测台焊接连接，所述夹具横杆与元件固定块通过支架连接。

优选的，所述元件固定块与元件夹板通过滑槽滑动连接，所述第一检测台和第二检测台与外接放电孔固定连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：