[实用新型]用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备

说明书

本实用新型提供了一种用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备，该设备包括电动旋转台、传感器、光纤夹持治具以及控制器，所述传感器固定在所述电动旋转台上，所述传感器具有用于感应光强的感应点，所述光纤夹持治具位于所述电动旋转台一侧且具有朝向电动旋转台的旋转轴线的光纤固定孔，所述光纤固定孔的高度与所述感应点的高度一致，所述电动旋转台和所述传感器均与所述控制器电连接，所述控制器用于控制所述电动旋转台旋转并记录电动旋转台的旋转角度以及传感器旋转到各个角度时感应的光强度信息，并根据记录的旋转角度以及对应的光强度值判断光纤透镜出光光束偏轴角度。本实用新型可对偏轴度直接进行测量，具有较高的测试稳定性，效率高。

技术领域

本实用新型涉及光纤检测技术领域，尤其涉及一种用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备。

背景技术

光纤透镜从原理上来说，是以光纤作为材料，在其中一端采用研磨、雕刻、熔融拉制等方法加工出特定几何特征，然后再通过抛光使得前端形成微小透镜的一种产品。

由于是再次加工，不可避免的会出现加工特征与光纤材料本身的纤芯出现偏离的现象。而这种加工后几何尺寸上的偏离会造成光纤内的光线经过透镜后出射，出射光的光轴与光纤的轴线不同轴的问题。

由于光的传播路径可逆，存在出射光偏轴的光纤透镜，其最佳的耦合方式应是将透镜的出射光轴与激光器出射光轴重合，但由于光轴的不可见特性，激光器耦合过程中一般是采用光纤材料轴对准的方式。所以如果光纤透镜本身存在出光偏轴现象，会直接影响到耦合效率，并且在耦合台上不易调试。

光纤透镜出射光偏轴度在现有市面在售的光束分析仪上无法直接进行测量；市面在售的光束分析仪原理上有两种：a. CCD面阵作为传感器，b. InGaAs或者Ge探测器作为传感器。CCD面阵式光束分析仪是通过CCD面阵上各像素点得到投射到传感器上的光束亮度分布信息，从而还原出光束在该界面上的能量分布，再结合CCD点阵分布的尺寸与能量分布信息得到光束界面的尺寸。InGaAs或者Ge探测器作为传感器，由于探测器本身不能像CCD面阵一样读到点阵分布尺寸信息，只能在外部增加扫描机构间接得到光斑强度与尺寸位置的对应关系。

两种原理的光束分析仪都存在如下问题：1. 都无法直接测得光纤透镜出光光束偏轴角度指标，如果需要对光束的某种指标进行评价，需要利用光束分析仪的各种读值进行计算或者二次开发测试软件来实现。2. 由于被测光为发散光，光纤会以不同角度到达传感器表面，不同入射角在传感器表面的反射率会有略微差异，需要后期利用软件进行补偿。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备，旨在用于解决现有的光束分析仪无法直接测得光纤透镜出光光束偏轴角度的问题。

本实用新型是这样实现的：

本实用新型提供一种用于检测光纤透镜出光光束偏轴角度的设备，其特征在于：包括电动旋转台、传感器、光纤夹持治具以及控制器，所述传感器固定在所述电动旋转台上，所述传感器具有用于感应光强的感应点，所述光纤夹持治具位于所述电动旋转台一侧且具有朝向电动旋转台的旋转轴线的光纤固定孔，所述光纤夹持治具的光纤固定孔的高度与所述传感器的感应点的高度一致，所述电动旋转台和所述传感器均与所述控制器电连接，所述控制器用于控制所述电动旋转台旋转并记录电动旋转台的旋转角度以及传感器旋转到各个角度时感应的光强度信息，并根据记录的旋转角度以及对应的光强度值判断光纤透镜出光光束偏轴角度。

进一步地，所述传感器采用InGaAs传感器，所述传感器的表面覆盖有遮光板，所述遮光板上具有狭缝，所述传感器表面对应狭缝的位置为感应点。

进一步地，还包括移动导轨，所述光纤夹持治具滑动设置在所述移动导轨上，所述移动导轨用于带动所述光纤夹持治具在光纤装夹位和光纤测试位之间移动。

进一步地，还包括三维微调架，所述光纤夹持治具固定在所述三维微调架上，所述三维微调架滑动设置在所述移动导轨上。