[实用新型]提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路及电子设备

说明书

本实用新型涉及提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路及电子设备。该控制电路中NTC热敏电阻的第一端连接供电电压VCC，NTC热敏电阻的第二端连接控制芯片MCU的AD引脚；NTC热敏电阻的第二端连接第一分压电路的第一端，第一分压电路的第二端连接短路开关电路第一端，短路开关电路第二端连接控制芯片MCU的GPIO引脚；第一分压电路的第二端通过第二分压电路接地，短路开关电路接地；控制芯片MCU的VCC引脚连接供电电压VCC，控制芯片MCU的GND引脚接地。本实用新型通过增加I/O口对接入NTC热敏电阻的分压电阻进行调节，为NTC热敏电阻在不同温度阶段提供合适大小的分压电阻，从而大大提升NTC对全范围温度的检测精度。

技术领域

本实用新型涉及温度检测领域，更具体地说，涉及一种提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路及电子设备。

背景技术

在温度检测领域，负温度系数的热敏电阻(NTC)是常用的温度检测传感器，且可实现较宽范围的温度检测。NTC的电阻值在高温时阻值很小，低温时阻值很大，比如3435K的NTC在90℃时阻值约为1.2K，在-30℃时阻值约为135K，如果需要用一个NTC同时检测高低温，则很可能会出现最高或最低温检测精度非常差的情况。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路及电子设备。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，包括控制芯片MCU、第一分压电路、第二分压电路、短路开关电路；

NTC热敏电阻的第一端连接供电电压VCC，所述NTC热敏电阻的第二端连接所述控制芯片MCU的AD引脚；所述NTC热敏电阻的第二端连接所述第一分压电路的第一端，所述第一分压电路的第二端连接所述短路开关电路第一端，所述短路开关电路第二端连接所述控制芯片MCU的GPIO引脚；所述第一分压电路的第二端通过所述第二分压电路接地，所述短路开关电路接地；

所述控制芯片MCU的VCC引脚连接供电电压VCC，所述控制芯片MCU的GND引脚接地。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述第一分压电路为第一分压电阻R1。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述第一分压电阻R1的阻值在第一预设范围内；或

所述第一分压电阻R1的阻值等于所述NTC热敏电阻在高温下的阻值。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述第二分压电路为第二分压电阻R3。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述第二分压电阻R3的阻值在第二预设范围内，且所述第一预设范围的最大值小于所述第二预设范围的最小值；或

所述第二分压电阻R3的阻值等于所述NTC热敏电阻在低温下的阻值。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述短路开关电路为MOS管Q1；

所述MOS管Q1的栅极连接所述控制芯片MCU的GPIO引脚，所述MOS管Q1的漏极连接所述第一分压电路的第二端，所述MOS管Q1的源极接地。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，所述第二分压电路的两端分别连接所述MOS管Q1的漏极和所述MOS管Q1的源极。

进一步，本实用新型所述的提高NTC热敏电阻检测精度的控制电路，还包括电阻R2，所述MOS管Q1的栅极通过所述电阻R2连接所述控制芯片MCU的GPIO引脚。