[实用新型]一种集成电路电源完整性测试用电烙铁折叠放大装置

说明书

本实用新型公开了一种集成电路电源完整性测试用电烙铁折叠放大装置，包括底板、折叠臂、放大镜，板卡放置在底板上部，所述底板一侧设有转轴，所述转轴上部一侧活动连接有转盘，所述折叠臂铰接在转盘上部，所述折叠臂上部一侧设有连杆，所述连杆一端设有放大镜。本实用新型在底板一侧设置了折叠臂，并在折叠臂上部设置了放大镜，当电子元件封装比较小时，利用折叠臂上的放大镜来观察、检验和焊接，提高了测试的效率。

技术领域

本实用新型属于电烙铁辅助焊接技术领域，特别涉及一种集成电路电源完整性测试用电烙铁折叠放大装置。

背景技术

集成电路是20世纪50年代后期到60年代发展起来的新型半导体器件，在之后的几十年中集成电路飞速发展，其中以韩国、美国、中国台湾为代表。集成电路的发展趋势遵循摩尔定律，即芯片集成度每18个月翻一番，芯片价格降低一倍，每三年器件的特征尺寸缩小到原来的70％。

但是，随着特征线宽的减小，晶体管的物理机制也会发生改变，当特征线宽缩小到纳米级别时，其电流会非常微弱，甚至仅有几十个或几个电子流动，此时晶体管将不能工作。随着集成电路工艺的发展，目前已经规模量产的硅材料的加工极限也在逐渐减小，即集成电路使电子元件向着微小型化迈进。

由于芯片工艺不断改进，从0.35um、0.18um、0.13um到目前的40nm甚至 28nm，芯片的内核电压也在不断降低，从3.3V、1.8V、1.5V到40nm器件的0.9V，芯片对电源的波动越来越敏感。保持电源的完整性，就是保持电源的稳定供电。在电源完整性验证的过程中，CPU供电有专门的工具进行静态、动态拉载测试，但是在验证板卡的外围电路电源完整性时，需要电烙铁辅助焊接。当电子元件封装比较小时，必须借助放大镜来观察、检验，操作人员一手拿着电烙铁一手拿着放大镜不便于操作，造成焊接效率较低。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足，提供一种集成电路电源完整性测试用电烙铁折叠放大装置，在底板一侧设置了折叠臂，并在折叠臂上部设置了放大镜，当电子元件封装比较小时，利用折叠臂上的放大镜来观察、检验和焊接，提高了测试的效率。

为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：

一种集成电路电源完整性测试用电烙铁折叠放大装置，包括底板、折叠臂、放大镜，板卡放置在底板上部，所述底板一侧设有转轴，所述转轴上部一侧活动连接有转盘，所述折叠臂铰接在转盘上部，所述折叠臂上部一侧设有连杆，所述连杆一端设有放大镜，将折叠臂设置在转盘上，利用转盘的转动调节放大镜的位置，从不同的位置观察、检验和焊接板卡，避免了在验证板卡的外围电路电源完整性时，需要不断调整板卡的问题，提高了测试的效率。

优选的，所述底板上部设有若干均匀布置的导槽，所述导槽内部设有滑块，所述滑块上部一侧固定连接有挡板，所述挡板一侧设有第一紧固旋钮，第一紧固旋钮下端贯穿滑块与导槽的底部相抵，将滑块放置在不同的导槽内部，并调整滑块间的距离，使板卡位于两侧的挡板之间，避免了板卡测试验证时发生移动，保证了板卡的焊接效果。

优选的，所述挡板上设有第一调节槽，所述第一调节槽内部设有螺柱，所述螺柱一端固定连接有角钢，且同一方向的角钢对向布置，所述螺柱另一端设有螺母；根据板卡的规格调整角钢的相对距离，使板卡的边角卡接在角钢内部，适用于不同规格的板卡验证使用。

优选的，所述螺母为蝶形螺母，蝶形螺母便于角钢位置的快速调整固定，提高了板卡测试验证的效率。

优选的，所述折叠臂两侧设有第二调节槽，所述折叠臂一侧设有凹槽，所述凹槽内部设有伸缩盒，所述伸缩盒两侧设有滑杆，所述滑杆安装在第二调节槽内部，所述折叠臂上部一侧设有第二紧固旋钮，第二紧固旋钮一端与伸缩盒相抵，通过调整伸缩盒伸出折叠臂的长度并通过第二紧固旋钮固定，适用于不同规格的板卡使用。