[实用新型]一种LED光源的光通量测量装置有效

专利信息
申请号: 201920728515.1 申请日: 2019-05-21
公开(公告)号: CN209764269U 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: 李铁成;林方盛;吉慕尧;黄必勇;成卫海;石雷兵 申请(专利权)人: 上海市计量测试技术研究院
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 31200 上海正旦专利代理有限公司 代理人: 陆尤
地址: 200040 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 中空球体 安装孔 照度探测器 本实用新型 标准光源 测量 外部 光通量测量装置 光谱辐射计 漫反射涂层 测量问题 测量装置 光度测量 光纤连接 出光面 发光面 光通量 入光面 球壁
【权利要求书】:

1.一种LED光源的光通量测量装置,其特征在于,包括:

中空球体,其内部设有漫反射涂层,所述中空球体的球壁上设有至少三个安装孔;

2π标准光源,通过所述中空球体的第一安装孔设于所述中空球体的外部,所述2π标准光源的发光面朝向所述中空球体的内部;

测量平台,用于放置待测LED光源,所述测量平台通过所述中空球体的第二安装孔设于所述中空球体的外部,其出光面朝向所述中空球体的内部;

照度探测器,通过所述中空球体的第三安装孔设于所述中空球体的外部,所述照度探测器的入光面连接所述中空球体的内部;以及

光谱辐射计,通过光纤连接所述照度探测器。

2.如权利要求1所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述2π标准光源包括:

匀光器,设于所述2π标准光源的发光面,并连接所述第一安装孔,所述匀光器用于对射向所述中空球体内部的光进行漫透射处理;

卤钨灯光源,设于所述匀光器的后方,用于发出可见光波段的全光谱辐射;以及

反光杯,设于所述卤钨灯光源的后方,用于将所述卤钨灯光源发出的光全部反射向所述中空球体内部。

3.如权利要求2所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述匀光器包括由多个微透镜组成的微透镜阵列,所述多个微透镜朝向多个不同的方向,以使所述2π标准光源的出射光的辐射强度与出射角的余弦值成正比。

4. 如权利要求2所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述2π标准光源还包括:

灯具座,用于固定所述卤钨灯光源,并连接直流电源来为所述卤钨灯光源供电;以及

散热器,设于所述反光杯的后方,并连接所述灯具座,所述散热器用于将所述卤钨灯光源发出的热量导出所述2π标准光源并散发。

5.如权利要求1所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述测量平台包括:

温控片,用于散发所述待测LED光源发出的热量;

绝缘导热层,设于所述温控片的上方,用于放置所述待测LED光源并将所述待测LED光源发出的热量传导至所述温控片;以及

可调电极,通过绝缘片设于所述温控片的上方,并在水平方向上位置可调,所述可调电极用于电性连接所述待测LED光源的引脚。

6.如权利要求5所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述测量平台还包括:

恒温控制器,连接所述温控片,用于调节所述温控片的温度以控制所述待测LED光源的结温恒定。

7. 如权利要求1所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述照度探测器包括:

适配器,连接所述中空球体的第三安装孔和所述光纤;以及

辐射修正片,设于所述照度探测器的入光面,并连接所述光纤的入射端面,所述辐射修正片用于对入射到所述照度探测器的光辐射进行余弦修正和均匀化处理。

8.如权利要求1所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述光谱辐射计包括:

导光装置,连接所述光纤的出射端面,用于将所述光纤中的光辐射导入所述光谱辐射计;

单色仪,设于所述导光装置的后端,用于将所述导光装置导入的所述光辐射分离为多个单色的窄波光辐射;

探测模块,设于所述单色仪的出射狭缝处,用于探测所述多个单色的窄波光辐射的辐射照度,并将所述多个单色的窄波光辐射的辐射照度转换为相应的数字信号;以及

信号处理模块,通讯连接所述探测模块,所述信号处理模块配置用于根据所述多个单色的窄波光辐射的辐射照度计算所述待测LED光源的光通量。

9.如权利要求8所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,所述信号处理模块还配置用于校正所述光谱辐射计的非线性响应。

10. 如权利要求1所述的LED光源的光通量测量装置,其特征在于,还包括:

第一挡板,设于所述第一安装孔与所述第三安装孔之间,用于防止未经所述中空球体漫反射的所述2π标准光源发出的光直接进入所述照度探测器的入光面;以及

第二挡板,设于所述第二安装孔与所述第三安装孔之间,用于防止未经所述中空球体漫反射的所述待测LED光源发出的光直接入射所述照度探测器的入光面。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海市计量测试技术研究院,未经上海市计量测试技术研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920728515.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top