[实用新型]一种基于同轴光源的多路成像检测设备

说明书

本实用新型属于机器视觉技术领域，尤其涉及一种基于同轴光源的多路成像检测设备，包括多个同轴光源，同轴光源包括照明装置、分光镜和壳体，壳体两侧分别设置有工件检测口以及与工件检测口对应设置的成像口，分光镜设置在工件检测口和成像口之间；多面反射镜，多面反射镜设置在多个同轴光源的中心，多面反射镜的多个反射面与多个成像口一一对应设置；拍摄装置，拍摄装置与多面反射镜对应设置。相对于现有技术，本实用新型通过在多个同轴光源的中心设置了与拍摄装置对应的多面反射镜，使多个同轴光源能共用一个拍摄装置，从而使一个拍摄装置能同时检测多个工件，提高了产品的检测效率，并降低了检测成本。

技术领域

本实用新型属于机器视觉技术领域，尤其涉及一种基于同轴光源的多路成像检测设备。

背景技术

机器视觉系统就是利用机器代替人眼来作各种测量和判断。它是计算机学科的一个重要分支，它综合了光学、机械、电子、计算机软硬件等方面的技术，涉及到计算机、图像处理、模式识别、人工智能、信号处理、光机电一体化等多个领域。图像处理和模式识别等技术的快速发展，也大大地推动了机器视觉的发展。

同轴光源提供了比传统光源更均匀的照明，因此提高了机器视觉的准确性和重现，同轴灯主要用于检测反光程度很厉害的平面物体，同轴光源能够凸显物体表面不平整，克服表面反光造成的干扰。

现有的同轴光源检测设备由一个同轴光源搭配一个相机和一个镜头，并对应检测一个产品；这种检测方式效率低，当需要增加多个工位去检测多个产品时，需要对应配备多个光源、相机、镜头去实现工位检测。由于光源、相机、镜头等检测设备成本较高，使用传统的检测光源方式去检测会导致检测成本高昂。

因此，亟需一种能降低同轴光源检测设备的检测成本的技术方案。

实用新型内容

本实用新型的目的在于：针对现有技术的不足，而提供一种基于同轴光源的多路成像检测设备，以解决现有同轴光源检测设备的检测成本高的问题。

为了实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种基于同轴光源的多路成像检测设备，包括：

多个同轴光源，所述同轴光源包括用于发出照明光线的照明装置、分光镜和壳体，所述照明装置设置在所述壳体，所述壳体两侧分别设置有工件检测口以及与所述工件检测口对应设置的成像口，所述分光镜设置在所述工件检测口和所述成像口之间，所述分光镜用于反射所述照明装置发出的照明光线，并使照明光线从所述工件检测口射出，且所述分光镜用于供从所述工件检测口射入的成像光线透过，并使成像光线从所述成像口射出；

多面反射镜，所述多面反射镜设置在多个所述同轴光源的中心，所述多面反射镜的多个反射面与多个所述成像口一一对应设置，所述反射面用于将从所述成像口射出的成像光线反射至拍摄装置；

拍摄装置，所述拍摄装置与所述多面反射镜对应设置。

作为本实用新型所述的基于同轴光源的多路成像检测设备的优选方案，所述拍摄装置包括镜头以及与所述镜头对应设置的相机。

作为本实用新型所述的基于同轴光源的多路成像检测设备的优选方案，所述照明装置包括LED元件、电路板和散热结构，所述LED元件设置在所述电路板的一侧，所述散热结构设置在所述电路板的另一侧。

作为本实用新型所述的基于同轴光源的多路成像检测设备的优选方案，所述LED元件均匀排设在所述电路板。

作为本实用新型所述的基于同轴光源的多路成像检测设备的优选方案，所述分光镜的镜面与水平面成α角，所述α角的角度为25°~65°。

作为本实用新型所述的基于同轴光源的多路成像检测设备的优选方案，所述分光镜的反光率为25%~75%，所述分光镜的透光率为25%~75%。