[实用新型]一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置

说明书

本实用新型实施例提供了一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；所述基座用于摆放轴向二极管；所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。

技术领域

本发明属于元器件可靠性筛选、环境筛选试验技术领域，涉及一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置。

背景技术

大部分电子元器件均要进行高温贮存环境试验，这是由于电子元器件的失效大多数是由体内和表面的各种物理、化学变化所引起，和温度有密切的关系。温度升高以后，化学反应速度大大加快，失效过程得到加速，使有缺陷的元器件能及时暴露，加以剥除。此试验的最大优点是可大批量进行，筛选效果明显，被普遍的采用。

高温环境试验在半导体分立器件上被广泛使用，它能有效剔除表面沾污、建合不良，氧化层有缺陷等失效机理的器件，通常在最高结温下贮存24-96小时进行筛选。对于半导体分立器件的筛选，温度越高（在极限贮存温度范围内），效果越好。故玻封轴向二极管均需要进行高温环境试验。

玻封轴向二极管在某型号任务上，需要在175℃环境下进行高温贮存试验，且每个二极管上都需要进行编号，通过一一对应的编号，可以计算出玻封轴向二极管在环境温度试验前后的参数变化，由于通常为二极管编号所使用的编号带均为纸质材料，在进行175℃高温贮存试验后，纸质编号脆化严重，容易脱落，导致无法正常计算试验前后的参数变化，所以此任务型号任务上的器件均需外协处理。

如果器件数量少的情况下，试验室对二极管进行逐一粘贴到金属盒中，并做好相应编号，进行高温贮存试验，此过程费时费力，工作效率极其低下，所以需要通过设计一种用于玻封轴向二极管环境试验的装置，来解决玻封轴向二极管高温环境试验的困境。

其次，大批量的二极管在进行高温贮存试验时，器件均是堆叠放入高温贮存盒中，温度流通较差，时间短时，影响试验效果。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于玻封轴向二极管高温环境试验的装置，其特征在于，由底至上依次包括底座、基座以及固定压条；其中，

所述底座为所述装置提供支撑，上面固定安装有所述基座；

所述基座用于摆放轴向二极管；

所述固定压条用于固定所述轴向二极管，防止所述轴向二极管由所述基座上脱落。

优选地，还包括限位条，所述限位条用于进一步防止述轴向二极管由所述基座上脱落。

优选地，所述限位条通过连接件安装于所述底座的相对两侧边。

优选地，所述限位条开设有螺纹孔，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔，所述连接件为螺钉，连接所述限位条与所述底座。

优选地，所述底座为镂空型，用于提升温度的整体流动性，并且减轻所述装置的总体重量。

优选地，所述固定压条采用镂空设计，用于增加大气对流。

优选地，所述固定压条、所述基座、所述底座通过螺纹连接，固定为一体。

优选地，还包括把手，所述把手通过连接件安装于所述底座上，便于所述装置的拿取。

优选地，所述把手开设有螺纹孔，所述底座的相对位置也开设有螺纹孔，所述连接件为螺钉，连接所述把手与所述底座。

优选地，所述把手和/或限位条进行“Z”字型开槽，有利于上下两块装置的叠放。