[实用新型]测试装置

说明书

本实用新型实施例提供一种测试装置，包括：检测电路，所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个，所述检测电路用于检测所述待测试电路每个输出端的信号是否异常。通过一个检测电路，可以测试待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。

技术领域

本实用新型实施例涉及电子技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

目前，为了检测芯片的输出信号是否正常，现有的测试方法主要有两种，一种是在芯片的每个输出口上接电阻和发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，通过观察LED灯的亮灭来判断芯片的输出信号是否正常；另一种是为了提高自动化测试水平，在芯片的每个输出口上接一个测试电路，通过单片机来检测芯片的输出信号是否正常。

然而，上述方式中，通过LED灯的亮灭来判断待测试电路是否存在故障，效率较低；当输出端较多时，在每个输出口上接一个测试电路的需求较大，造成测试电路资源不足。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种测试装置，用于判断待测试电路输出的多路信号是否出现异常，提高了测试效率，同时节省了测试资源。

第一方面，本实用新型实施例提供一种测试装置，包括：检测电路；

所述检测电路的输入端和待测试电路的输出端连接，所述待测试电路的输出端的数目有多个，所述检测电路的数目为一个；

所述检测电路用于检测所述待测试电路输出端的信号是否异常。

在一种可能的设计中，所述检测电路包括光电耦合器；

所述光电耦合器的第一输入端和第一电源连接，所述光电耦合器的第二输入端和所述待测试电路的输出端连接。

在一种可能的设计中，所述检测电路还包括开关电路，所述开关电路和所述光电耦合器的第一输出端连接。

在一种可能的设计中，所述开关电路包括第二电源和第一电阻；

所述第一电阻的一端和所述第二电源连接，所述第一电阻的另一端和所述光电耦合器的第一输出端连接。

在一种可能的设计中，所述光电耦合器的第一输出端和所述检测电路的输出端连接。

在一种可能的设计中，所述检测电路包括第二电阻，所述第二电阻的一端和所述光电耦合器的第一输出端连接，所述第二电阻的另一端和所述检测电路的输出端连接。

在一种可能的设计中，所述检测电路的输出端和所述光电耦合器的第二输出端均接地。

在一种可能的设计中，所述检测电路还包括滤波电容，所述滤波电容的一端和所述检测电路的输出端连接，所述滤波电容的另一端接地。

在一种可能的设计中，所述装置还包括第三电阻；

所述第三电阻的一端和所述待测试电路的输出端连接，所述第三电阻的另一端和所述检测电路的输入端连接。

在一种可能的设计中，所述装置还包括单片机；

所述单片机的输入端和所述检测电路的输出端连接，所述单片机的输出端和所述待测试电路的输入端连接；

其中，所述光电耦合器的第二输入端为低电平，所述光电耦合器导通，所述单片机接收到的信号为低电平；所述光电耦合器的第二输入端为高电平，所述光电耦合器不导通，所述单片机接收到的信号为高电平。