[实用新型]一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置有效
| 申请号： | 201920689974.3 | 申请日： | 2019-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN210221750U | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 张宏阳;王景丽;蔡静;王健;张重远 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N3/62 | 分类号： | G01N3/62 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 试验 冲击 试样 缺口 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，包括尺身(1)、制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)，其特征在于，所述制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)均关于尺身(1)中心线成对对称设置；所述对中测量装置还包括定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)，所述定位卡脚(7)设于尺身(1)中心线位置正上方，所述V型缺口定位块(8)设于尺身(1)中心线位置正下方，所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)中心线与尺身(1)中心线重合，两套主尺(5)和游标(3)的刻度线关于尺身(1)中心线对称设置，且零刻度线靠近尺身(1)中心线一侧，所述对中测量装置形成关于尺身(1)中心线为轴的对称结构。
2.按照权利要求1所述的一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，其特征在于，所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)与尺身(1)一体成型。
3.按照权利要求2所述的一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置，其特征在于，所述活动卡脚(6)与游标(3)一体成型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院金属研究所，未经中国科学院金属研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920689974.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：面料侧边车缝装置及全自动面料裁切车缝系统
- 下一篇：一种罩光清漆生产设备
