[实用新型]一种PIV特性测试仪

说明书

本实用新型公开了一种PIV特性测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体的正面分别设置有显示模块和操控模块，所述测试仪本体底部的四角均焊接有支撑腿，所述测试仪本体的背面设置有输出接口模块，所述操控模块的输出端单向电连接有信号转换模块，信号转换模块的输出端单向电连接有信号传输模块。本实用新型通过显示模块、操控模块、输出接口模块、激光驱动电源模块、TEC温度控制电源和光功率探测模块的设置，解决了目前的半导体激光器在使用过程中精度不高，不能够对过压或过流情况进行保护，而且可靠性较低的问题，该PIV特性测试仪，具备多重保护和双向温度控制功能，而且检测的准确性和可靠性高的优点，值得推广。

技术领域

本实用新型涉及自动控制产品技术领域，具体为一种PIV特性测试仪。

背景技术

半导体激光器又称激光二极管，是用半导体材料作为工作物质的激光器，由于物质结构上的差异，不同种类产生激光的具体过程比较特殊，常用工作物质有砷化镓、硫化镉、磷化铟、硫化锌等，激励方式有电注入、电子束激励和光泵浦三种形式，半导体激光器件，可分为同质结、单异质结、双异质结等几种，同质结激光器和单异质结激光器在室温时多为脉冲器件，而双异质结激光器在室温时可实现连续工作。

目前的半导体激光器在使用过程中，激光驱动电源、温控设备、光功率控制与探测都是必须的，但是它们的精度不高，不能够对过压或过流情况进行保护，而且可靠性较低，为此提出一种半导体激光器PIV特性测试仪来解决此问题，该测试仪具备多重保护和双向温度控制功能，而且检测的准确性和可靠性高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种PIV特性测试仪，具备多重保护和双向温度控制功能，而且检测的准确性和可靠性高的优点，解决了目前的半导体激光器在使用过程中精度不高，不能够对过压或过流情况进行保护，而且可靠性较低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种PIV特性测试仪，包括测试仪本体，所述测试仪本体的正面分别设置有显示模块和操控模块，所述测试仪本体底部的四角均焊接有支撑腿，所述测试仪本体的背面设置有输出接口模块，所述操控模块的输出端单向电连接有信号转换模块，信号转换模块的输出端单向电连接有信号传输模块，信号传输模块的输出端单向电连接有中央处理器，中央处理器的输出端单向电连接有控制单元，控制单元的输出端分别单向电连接有激光驱动电源模块、TEC温度控制电源和光功率探测模块，TEC温度控制电源、光功率探测模块和数据处理单元的输出端均单向电连接有数据处理单元，所述显示模块和输出接口模块的输入端均与数据处理单元的输出端单向电连接。

优选的，激光驱动电源模块的电流大小采用PWM调节。

优选的，TEC温度控制电源采用现代最新电力电子器件和高速数字微处理器程序控制技术，以及PWM调制、双向电源、PID调节技术。

优选的，TEC温度控制电源带有过流、过压、过温、欠温等保护电路以及RS232远程控制接口。

优选的，光功率探测模块配有大面积PIN管。

优选的，激光驱动电源模块的输电电压为0～3V自适应。

优选的，光功率探测模块采用8分段的线性化处理。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过显示模块、操控模块、输出接口模块、激光驱动电源模块、TEC温度控制电源和光功率探测模块的设置，解决了目前的半导体激光器在使用过程中精度不高，不能够对过压或过流情况进行保护，而且可靠性较低的问题，该PIV特性测试仪，具备多重保护和双向温度控制功能，而且检测的准确性和可靠性高的优点，值得推广。