[实用新型]一种激光二极管测试设备

权利要求书

1.一种激光二极管测试设备，其特征在于：所述激光二极管测试设备（100）包括，

机架（20）；

上料部（30），安装于机架（20）；所述上料部（30）用于放置待测激光二极管芯粒；

传料部（40），安装于机架（20）；所述传料部（40）用于将激光二极管芯粒传输到预定的位置；

第一测试部（50），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从上料部（30）传输到所述第一测试部（50），所述第一测试部（50）对激光二极管芯粒进行测试；

第二测试部（60），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将激光二极管芯粒从第一测试部（50）传输到第二测试部（60），所述第二测试部（60）对激光二极管芯粒进行测试；

收料部（70），安装于机架（20）；所述传料部（40）能够将第二测试部（60）上的激光二极管芯粒传输到收料部（70）。

2.根据权利要求1所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述上料部（30）、第一测试部（50）、第二测试部（60）和收料部（70）沿第一直线依次排布。

3.根据权利要求1所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述第一测试部（50）为常温测试结构；所述第二测试部（60）为高温测试结构。

4.根据权利要求2或3所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

传料部（40）包括第一支撑部（41）和第一取料部（42），所述第一支撑部（41）连接于机架（20），所述第一取料部（42）通过滑轨水平连接于第一支撑部（41）；所述第一取料部（42）能够用于取放芯粒。

5.根据权利要求2或3所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述第一测试部（50）包括，

测试承载部（51），连接于机架（20），用于放置待测试的芯粒；

第一探针部（52），连接于机架（20），用于对放置于测试承载部（51）的芯粒电连接；

后端光功率测试部（53），连接于机架（20），用于测试芯粒后端的发光光功率；

第一前端光功率测试部（54），连接于机架（20），用于测试芯粒的前端发光光功率；

光波长测试部（55），连接于于机架（20），用于测试芯粒的前端发光波长。

6.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述测试承载部（51）设置有连接真空的吸附孔，待测试芯粒通过所述吸附孔真空吸附于测试承载部（51）。

7.根据权利要求6所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述测试承载部（51）包括加热部和温度感应部，所述加热部调节温度使待测试的芯粒处于预设的温度环境，所述温度感应部用于检测待测芯粒所处环境的温度。

8.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述第一前端光功率测试部（54）和光波长测试部（55）均通过滑动安装部（56）连接于机架（20）。

9.根据权利要求5所述的激光二极管测试设备，其特征在于：

所述第一探针部（52）和后端光功率测试部（53）均通过运动安装部（57）连接于机架（20）。

10.根据权利要求9所述的激光二极管测试设备，其特征在于：所述运动安装部（57）通过竖向滑轨连接于机架（20）；

驱动电机固定于机架（20），所述驱动电机连接有凸轮，所述凸轮止抵于运动安装部（57）下端。