[实用新型]傅里叶变换光谱仪用全反射装置

说明书

一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置，包括晶体盘组件、样品盘、压头组件、废料盘、ATR镜组，所述的晶体盘组件包括晶体、晶体固定盘、导轨滑块、丝杆和晶体盘电机，所述的晶体置于晶体固定盘的中央，所述的晶体固定盘跨设在导轨滑块上，所述的丝杆设在所述的晶体固定盘的一端，所述的丝杆在所述的电机的驱动下带动所述的晶体固定盘和所述的晶体在所述的导轨滑块上一起移动。本实用新型可实现样品在红外分析仪器上自动测试，操作简单方便，特别适用形状不规则、大小不规则的颗粒样品测试。

技术领域

本实用新型属于光谱分析领域，特别涉及一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置(ATR)。

背景技术

傅里叶变换红外光谱仪(FTIR)的基本工作原理是：经过准直的待测红外光束入射到迈克尔逊干涉仪中，控制干涉仪中动镜的运动，获得不同光程差下的干涉图，将获得的干涉图进行傅里叶变换，就得到光束的红外光谱图。一般FTIR光谱仪在干涉仪输出光与检测器之间会设置样品仓，通过在样品仓内放置适当透射、反射等测试装置并将样品以适当固定，以实现样品的透射光谱、反射光谱测量。

衰减全反射装置(ATR)作为一种高灵敏光信号测试技术，衰减全反射装置的核心通常包含光导入组件、ATR晶体、光导出组件。ATR通过测量样品表面的反射信号来提取有效光谱信息，简化了样品制作过程，同时也极大地拓展了光谱法的应用范围，已经被广泛应用于纤维、塑料、涂料、橡胶、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。

ATR与FTIR光谱仪相结合，发挥二者的优势，就可以在更多场合取得应用、获取更好的光谱测试灵敏度、信噪比和对样品材料性质。理论上，将ATR装置放入FTIR光谱仪样品仓，就可实现ATR光谱测试分析。在实际应用中，样品需要手动放置在晶体表面，且需要尽量放置在晶体的中心，通过手动操作驱动压头压制住样品。有些样品是不规则的小颗粒，不容易放置和固定；多次手动驱动压头压紧样品，消耗体力；测试完后，还需要人工松动压头，把样品拿走，十分不便。

实用新型内容

本实用新型提供一种傅里叶变换光谱仪的全反射装置，该装置解决人工测试中多处不方便的操作。测试中仅仅需要把样品置入装置中，后续就可以全部自动完成测试。具有可随意放入样品、自动对准压住样品、样品自动回收等特点。

本实用新型采用的技术解决方案如下：

一种傅里叶变换光谱仪用全反射装置，包括晶体盘组件、样品盘、压头组件、废料盘、ATR镜组，其特点在于：

所述的晶体盘组件包括晶体、晶体固定盘、导轨滑块、丝杆和晶体盘电机，所述的晶体置于晶体固定盘的中央，所述的晶体固定盘跨设在导轨滑块上，所述的丝杆设在所述的晶体固定盘的一端，所述的丝杆在所述的电机的驱动下带动所述的晶体固定盘和所述的晶体在所述的导轨滑块上一起移动；

所述的压头组件包括压头、滑竿、固定座、螺杆和压头组件电机，所述的压头垂直向下，该压头的上端通过连杆与所述的滑竿的上端固定相连，所述的滑竿的下端向下依次是所述的固定座、螺杆和电机连成一体；

所述的样品盘和压头组件置于晶体盘组件的晶体的正上方，所述的压头组件的压头置于所述的样品盘之中，所述的废料盘置于所述的晶体的正下方，且位于ATR镜组中部的空间；

将多个样品置于所述的样品盘后，所述的压头组件在压头组件电机的驱动下，自动下降，所述的压头将样品压在所述的晶体盘组件的晶体上；所述的ATR镜组将从傅里叶变换光谱仪发出的光束引入到晶体上，透过晶体的光带有样品的信号，通过ATR镜组返回到光谱仪中分析；光谱仪分析完成后，在晶体盘电机的驱动下，所述的晶体盘组件的晶体和晶体固定盘移动，此时样品自动掉落在所述的废料盘中。

进一步，所述的样品盘呈底中有通孔的内凹的碗状结构。

进一步，所述的废料盘具有内凹形状。