[实用新型]一种用于批量测试TO-56低温光谱的耦合夹具

说明书

本实用新型涉及一种用于批量测试TO‑56低温光谱的耦合夹具，包括第一夹具体，所述第一夹具体的上部设置有横板，所述横板上沿横向间隔设置有若干个用于安装二极管专用插座的纵向安装孔，所述第一夹具体的前侧设置有第二夹具体，所述第二夹具体上嵌设有条状磁铁，第二夹具体上设置有被条状磁铁吸附的第三夹具体，所述第三夹具体上设置有用于安装透镜光纤并与纵向安装孔等高的纵向插孔。该耦合夹具解决目前低温光谱测试造价高昂或测试数量局限性等问题。

技术领域

本实用新型涉及一种用于批量测试TO-56低温光谱的耦合夹具。

背景技术

中国光通信器件市场的发展已经进入黄金期，对于光模块的核心器件半导体激光器，每年的需求量将达到千万甚至上亿只，市场前景乐观，容量巨大，而这些器件中，随着人们对通信宽带需求的增加，及半导体激光器技术的成熟铺开，DFB激光器将成为市场主流。

而在DFB产品的应用中，一般客户都对产品的工作温度有要求，有需求工业级的（-40℃至85℃），有需求商业级的（-20℃至85℃）。因此，为了满足以上需求，供应商一般会对产品进行相应温度的产品性能测试。其中最常用的是常温性能测试，及高温性能测试，而在低温上，大部分供应商选择性抽测，而这选择性的抽测成本往往都比较高，且效率一般都比较低。

其主要测试方法一般有两种：

1、三轴调节架夹具搭配组合测试低温光谱，测试数量有限，往往对应的是单颗测试，三轴架成本也比较高，测试效率低

2、自动耦合测试设备，需要加入电机马达等测试系统，电动控制光纤夹具，来耦合测试产品。测试成本极高，测试数量固定，需要扩充数量，一般需要新增购买设备。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种用于批量测试TO-56低温光谱的耦合夹具，该耦合夹具解决目前低温光谱测试造价高昂或测试数量局限性等问题。

本实用新型的技术方案在于：一种用于批量测试TO-56低温光谱的耦合夹具，包括第一夹具体，所述第一夹具体的上部设置有横板，所述横板上沿横向间隔设置有若干个用于安装二极管专用插座的纵向安装孔，所述第一夹具体的前侧设置有第二夹具体，所述第二夹具体上嵌设有条状磁铁，第二夹具体上设置有被条状磁铁吸附的第三夹具体，所述第三夹具体上设置有用于安装透镜光纤并与纵向安装孔等高的纵向插孔。

进一步地，所述纵向安装孔的轴线位于同一水平面上，所述横板的上端面上沿横向间隔设置有与纵向安装孔相对应并竖向通入纵向安装孔的螺丝孔，所述螺丝孔上螺接有锁定螺丝。

进一步地，所述第一夹具体的两侧部分别设置有向后延伸用于与光学面包板相连接的固定座，所述固定座上竖向设置有螺栓孔。

进一步地，所述横板上沿横向间隔设置有8个纵向安装孔。

进一步地，所述第二夹具的上端面沿横向开设有横槽，所述条状磁铁嵌入横槽且顶面与第二夹具体的上表面相平齐。

进一步地，所述条状磁铁上间隔设置有竖向穿过条状磁铁与第二夹具体锁定连接的锁定螺栓。

进一步地，所述第二夹具的两侧部分别设置用于与光学面包板相连接的连接部，所述连接部上设置有螺栓孔。

进一步地，所述第三夹具体为方形体，且第三夹具体的侧壁设置有横向穿入纵向插孔的螺丝孔，所述螺丝孔上螺接有锁定螺丝。

与现有技术相比较，本实用新型具有以下优点：该耦合夹具解决目前低温光谱测试造价高昂或测试数量局限性等问题，在降低成本的基础上，使测试效率及测试质量得到大大提升。夹具简单，方便加工及价格便宜；夹具多工位同时同轴耦合作业，扩展性要强，出光谱质量好；夹具C在夹具B放置，需要一定力度方可移动，降温过程，耦合夹具不会因为腔内冷空气鼓风及压缩机的工作而振动位置偏移。

附图说明