[实用新型]内径通过检测设备

说明书

一种内径通过检测设备包括机架、上料机构、检测模组及警报组件。机架包括支撑架及质检台，上料机构包括震盘、入料导轨及切分机械手，检测模组包括气动滑台、浮动补偿架、下压件及塞规，浮动补偿架安装于气动滑台上，下压件设置于浮动补偿架上，塞规安装于下压件上，且塞规朝向质检台设置，气动滑台用于驱动塞规向靠近或者远离质检台的方向往复移动；警报组件包括挡片、支撑钣金件、下限到位开关及上限警报开关，上料机构将待测工件移动到检测模组处，由检测模组来检测待测工件的孔径的精度是否达标，采用机械配件进行检测，确保检测时施加的压力相同，排除人为因素对测试结果的干扰，提高质检的准确度及质检效率。

技术领域

本实用新型涉及一种检测设备，特别是涉及一种内径通过检测设备。

背景技术

在质检零件的孔径尺寸是否在公差内时，为了提高质检效率，一般采用塞规进行，每一塞规均包括通端及止端，其中通端对应该尺寸公差的下偏差，止端对应该尺寸公差的上偏差，分别使用通端及止端插向待测孔，若通端能通过待测孔而止端不能穿过待测孔，则证明该待测孔的尺寸在公差范围内，否则即待测孔加工误差超过公差范围，需要返工或者废弃。

然而，在使用塞规过程中，不同的使用者将塞规塞入待测孔时的力度把控各不相同，塞规塞入待测孔时会产生一定的阻力，由于塞规使用者施力的差异，当待测孔的尺寸非常接近下极限尺寸或者上极限尺寸时，容易导致经验不足的质检员对待测孔的孔径产生误判。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种内径通过检测设备，采用机械配件来驱动塞规测试工件的孔径，排除人为因素对测试结果的干扰，提高质检的准确度及质检效率。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种内径通过检测设备包括：机架、上料机构、检测模组及警报组件；

所述机架包括支撑架及质检台，所述质检台安装于所述支撑架上；

所述上料机构包括震盘、入料导轨及切分机械手，待测零件容置于所述震盘内，所述入料导轨设置于所述震盘上，所述切分机械手朝向所述入料导轨设置，所述切分机械手于所述质检台及所述入料导轨之间往复位移；

所述检测模组包括气动滑台、浮动补偿架、下压件及塞规，所述浮动补偿架安装于所述气动滑台上，所述下压件设置于所述浮动补偿架上，所述塞规安装于所述下压件上，且所述塞规朝向所述质检台设置，气动滑台用于驱动所述塞规向靠近或者远离所述质检台的方向往复移动；

所述警报组件包括挡片、支撑钣金件、下限到位开关及上限警报开关，所述支撑钣金件安装于所述质检台上，所述下限到位开关及所述上限警报开关均安装于所述支撑钣金件上，且所述下限到位开关位于所述上限警报开关的正上方，所述挡片安装于所述浮动补偿架上。

在其中一个实施例中，所述下限到位开关及所述上限警报开关均为光电式传感器。

在其中一个实施例中，所述支撑架开设有落料口，且所述落料口位于所述塞规的正下方。

在其中一个实施例中，所述质检台包括承载块、滑块及下料气缸，所述承载块安装于所述支撑架上，所述滑块设置于所述承载块上，所述下料气缸用于推动所述滑块封闭或者打开所述落料口。

在其中一个实施例中，所述机架还包括到位检测开关，所述到位检测开关设置于所述支撑架上，所述到位检测开关用于所述塞规下方是否有待测工件。

在其中一个实施例中，所述浮动补偿架包括横向补偿组件及纵向补偿组件，所述横向补偿组件安装于所述气动滑台上，所述纵向补偿组件安装于所述横向补偿组件上，所述下压件安装于所述纵向补偿组件上。