[实用新型]一种玻璃平面度检测机构有效

专利信息
申请号: 201920509572.0 申请日: 2019-04-16
公开(公告)号: CN209802322U 公开(公告)日: 2019-12-17
发明(设计)人: 张佳骥;张剑峰 申请(专利权)人: 亚智系统科技(苏州)有限公司
主分类号: G01B11/30 分类号: G01B11/30
代理公司: 44214 广州市红荔专利代理有限公司 代理人: 关家强
地址: 215153 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 玻璃工件 基准测量 激光发射器 玻璃平面 传送装置 激光线束 相机组件 平面度 本实用新型 整体平面度 测量支架 高度信息 工件接触 立体成像 实时计算 在线检测 支撑平台 工段 构建 投影 判定 图像 运送 发射 检测 覆盖 检查
【说明书】:

实用新型公开了一种玻璃平面度检测机构,由第一传送装置输送待测玻璃工件至基准测量平台上,基准测量平台作为玻璃工件的支撑平台,测量支架带动相机组件和激光发射器从所述基准测量平台的一端运行至另一端,在此过程中,所述激光发射器发射激光线束至玻璃工件上,所述相机组件获取投影在玻璃工件上的激光线束图像,实时计算待测玻璃工件的高度信息,完成立体成像模型的构建,获取待测玻璃工件的平面度,完成检测的玻璃工件通过第二传送装置运送至下游工段。该玻璃平面度检测机构,无需与工件接触,可覆盖整个工件的表面,以判定玻璃工件的整体平面度,尤其适用于大面积以及较长玻璃工件的平面度在线检测,检查效率及精度高。

技术领域

本实用新型涉及一种玻璃平面度检测机构。

背景技术

平面度测量,又称平整度测量,目前,在玻璃制造领域,测量平面度的方法主要有以下几种:塞尺测量,通过塞尺塞满整个工件边缘,得出测量数据;影像测量仪测量,通过自动光学对焦扫描测量,得出所需的测量结果;接触式探针测量,通过探针直接接触到工件上进行量测;激光测量仪测量,采用非接触式激光取点测量,不会损坏工件,测量效率高。

现有的平面度测量存在以下缺陷:塞尺测量的弊端很大,由于塞尺无法塞至工件的中间位置,导致中间部位数据测量不到,且塞尺测量容易刮花及损坏玻璃工件;影像测量仪虽然能达到所需的测量结果,但是效率低下,无法满足大规模生产的玻璃制品的检测要求;接触式探针测量准确度较高,但效率较低,且容易导致工件形变;激光测量仪测量,采用的是选择性测量的方式,未覆盖整个玻璃表面,无法满足需要判定工件整体平面度的检测要求。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型提供了一种玻璃平面度检测机构,适用于玻璃工件整体平面度的在线检测。

本实用新型采用的技术方案是:提供一种玻璃平面度检测机构,包括依次设置的第一传送装置、检测装置和第二传送装置,其中,

所述检测装置包括基准测量平台,所述基准测量平台可向靠近及远离所述第一传送装置或第二传送装置的方向移动;在所述基准测量平台上方设置有测量支架,在所述基准测量平台两侧设置有直线导轨,所述测量支架可沿所述直线导轨滑行;在所述测量支架上安装有相机组件和激光发射器;

所述第一传送装置输送待测玻璃工件至所述基准测量平台上;所述测量支架沿所述直线导轨从所述基准测量平台的一端向另一端滑行,所述激光发射器发射激光线束至待测玻璃工件上,所述相机组件获取投影在待测玻璃工件上的激光线束图像,实时获取待测玻璃工件表面的高度信息,完成立体成像模型的构建,获取待测玻璃工件的平面度;所述基准测量平台将完成检测的玻璃工件运送至所述第二传送装置上。

作为对上述方案的改进,所述第一传送装置、第二传送装置为输送皮带或输送链条。

作为对上述方案的改进,在所述基准测量平台的底部设置有驱动装置,所述基准测量平台由所述驱动装置驱动向靠近及远离所述第一传送装置或第二传送装置的方向移动。

作为对上述方案的改进,所述驱动装置为气缸、液压缸、电缸或直线电机中的一种。

作为对上述方案的改进,在所述测量支架底部设置有滑块,所述滑块可沿所述直线导轨滑行,从而带动所述测量支架沿所述直线导轨在所述基准测量平台的一端和另一端之间滑行。

作为对上述方案的改进,所述滑块由伺服电机和滚珠丝杠机构带动沿所述直线导轨滑行。

作为对上述方案的改进,所述相机组件包括信号连接的线阵相机和上位机,所述线阵相机获取投影在待测玻璃上的激光线束图像并传输至所述上位机,所述上位机根据所接收到的激光线束图像实时计算待测玻璃工件表面的高度信息,完成立体成像模型的构建,并获取待测玻璃工件的平面度。

作为对上述方案的改进,所述上位机信号连接显示装置,用于显示待测玻璃工件的实时高度信息及其平面度。

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