[实用新型]激光芯片用高精度检测夹具有效

专利信息
申请号: 201920491357.2 申请日: 2019-04-12
公开(公告)号: CN209894849U 公开(公告)日: 2020-01-03
发明(设计)人: 徐鹏嵩;罗跃浩;赵山;郭孝明;王化发;黄建军 申请(专利权)人: 苏州联讯仪器有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04;G01R31/28
代理公司: 32103 苏州创元专利商标事务所有限公司 代理人: 王健
地址: 215011 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 焊接触点 连接触点 基板 载板 本实用新型 测试触点 连通 外部设备 夹具 高精度检测 供电触点 焊接通孔 基板底面 激光芯片 连接探针 温度波动 芯片探针 均匀性 芯片槽 底面 减小 接电 控温 引脚 加热 焊接 测试
【权利要求书】:

1.一种激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:包括基板(1)、安装在基板(1)上的载板(2)和安装在载板(2)上的第一PCB(3),所述载板(2)上开有供芯片嵌入的芯片槽(201),所述第一PCB(3)上具有与芯片槽(201)对应的芯片探针(31),所述第一PCB(3)与载板(2)之间留有走光间隙(202),所述基板(1)和载板(2)之间安装有若干个TEC(4),此TEC(4)位于芯片槽(201)的正下方;

所述基板(1)上安装有一第二PCB(6),此第二PCB(6)上具有连接触点(61)、与连接触点(61)连通的测试触点(62)、焊接触点(63)和与焊接触点(63)连通的供电触点(64),所述第一PCB(3)上具有与连接触点(61)对应的连接探针(32),所述测试触点(62)用于连接外部设备,所述TEC(4)的接电引脚(41)焊接在焊接触点(63)上;

所述焊接触点(63)位于第二PCB(6)底面,所述基板(1)底面开有与焊接触点(63)对应的焊接通孔(16)。

2.根据权利要求1所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述基板(1)顶面开有供TEC(4)嵌入的安装槽(101)。

3.根据权利要求2所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述安装槽(101)间隔开有两个,所述载板(2)设置为两个并分别位于此两个安装槽(101)中。

4.根据权利要求3所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:一个所述安装槽中TEC(4)的数量为四个,两个所述芯片槽(201)与一个TEC(4)对应。

5.根据权利要求1所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述测试触点(62)位于第二PCB(6)底面的两端,所述基板(1)上开有与测试触点(62)对应的测试通孔(102)。

6.根据权利要求1所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述基板(1)上开有与供电触点(64)对应的供电通孔(103)。

7.根据权利要求1所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述基板(1)顶面设有安装块(104),所述第二PCB(6)上开有供安装块(104)嵌入的安装通孔(601)。

8.根据权利要求7所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述安装块(104)通过安装螺丝(105)固定在基板(1)顶面。

9.根据权利要求1所述的激光芯片用高精度检测夹具,其特征在于:所述第二PCB(6)顶面的两端安装有提手(602)。

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