[实用新型]一种基于PXIE架构的电源卡

说明书

本实用新型公开了一种基于PXIE架构的电源卡，包括模数转换器单元、若干DPS芯片单元、背板连接器单元、控制器单元、DUT连接器单元，所述控制器单元与所述模数转换器单元电性连接，所述模数转换器单元将模拟信号转换为数字信号传输至所述控制器单元，每个所述DPS芯片单元分别与所述控制器单元电性连接，每个所述DPS芯片单元的输出端并联且与所述模数转换器单元的输入端电性连接。本实用新型公开的基于PXIE架构的电源卡，其具有过压、过流、钳位保护功能，能应用在芯片测试中电源供电，测试芯片的动态的电流等特性。

技术领域

本实用新型属于电源卡领域，具体涉及一种基于PXIE(PXI EXPRESS)架构的电源卡。

背景技术

在芯片研发测试系统中，电源部分是可靠性测试中重点关注的测试项目，在电源部分的可靠性测试中，通常需要重点关注电源容限、芯片供电电源的薄弱点等。为了提高系统的可靠性，常常需要对电子产品做可靠性测试，从而验证产品在极端工作条件下是否具备可靠性与稳定性。因此业界在研发测试阶段通常需要对系统进行可靠性测试，具体可以对单板进行拉偏，通过拉低芯片供电电压来验证系统对电源波动的敏感度、验证系统在电源方面的可靠性。

该测试方案存在如下不足：

1.不能单独对芯片供电电源进行可靠性测试；

2.不能保证系统对电源的整体可靠性。

实用新型内容

本实用新型针对现有技术的状况，克服上述缺陷，提供一种基于PXIE架构的电源卡。

本实用新型的主要目的在于提供一种基于PXIE架构的电源卡，其具有多路电源通道，每一路的电源可独立编程，可以多通道合并到一个通道提供大电流等功能。

本实用新型的另一目的在于提供一种基于PXIE架构的电源卡，其具有过压、过流、钳位保护功能，可以在芯片测试中电源供电，同时还可以测试芯片动态电流。

为达到以上目的，本实用新型提供一种基于PXIE架构的电源卡，包括模数转换器单元、若干DPS单元，所述电源卡与背板电性连接用于测试芯片性能，包括：

背板连接器单元、控制器单元、模数转换器单元、若干DPS芯片单元、DUT连接器单元，其中：

所述控制器单元与所述模数转换器单元电性连接，所述模数转换器单元将模拟信号转换为数字信号传输至所述控制器单元，每个所述DPS芯片单元分别与所述控制器单元电性连接，每个所述DPS芯片单元的输出端并联且与所述模数转换器的输入端电性连接；

每个所述DPS芯片单元的一端分别与所述DUT连接器单元的相对应一端电性连接，所述DUT连接器单元远离所述DPS芯片单元的一端与上述测试芯片的一端电性连接；

所述背板连接器单元的一端与所述控制器单元的一端电性连接，所述背板连接器单元远离所述控制器单元的一端与上述背板的一端电性连接。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，所述背板连接器单元包括XJ3区域连接器和XJ4区域连接器，所述XJ3区域连接器和XJ4区域连接器电性连接，其中：