[实用新型]晶片检测推压器

说明书

本实用新型提供一种晶片检测推压器，其包括有：一基座，至少具有一下凹部，而由该下凹部向下形成有一对锁合孔；至少一推压块，底缘相对该下凹部具有一凸缘部，而于该凸缘部相对该对锁合孔形成有一对上宽下窄的结合孔；至少一对结合杆，相对该结合孔形成有一宽头段与一窄身段，且相对该锁合孔形成有一螺纹尾段，而将该宽头段与该窄身段穿设于该结合孔且将该螺纹尾段锁设于该锁合孔；以及至少一对缓冲弹簧，套设于该结合杆而位于该推压块与该基座之间；如此，利用该结合杆锁设于该基座进而将该推压块与该缓冲弹簧结合于该基座。于是，用以解决背景技术结合稳固性较差的问题，而具有提升结合稳固性的功效。

技术领域

本实用新型涉及一种晶片检测推压器，尤指一种结合杆直接锁设于基座而将推压块与缓冲弹簧结合于基座的设计，致使结合杆反复处于被撞击的状态也不会松脱的设计者。

背景技术

晶片检测推压器系用以对待检测晶片施加适当的推压力，致使待检测晶片电性接触于检测座而进行检测；如图1、图2所示，现有的晶片检测推压器10包括有：一基座11，至少具有一下凹部111，而由该下凹部111向下形成有一对下结合孔112，且相对各该下结合孔112的侧边形成有一止付螺孔113；至少一推压块12，底缘相对该下凹部111具有一凸缘部121，而于该凸缘部121相对该对下结合孔112成有一对上宽下窄的上结合孔122；至少一对结合杆13，相对该上结合孔122形成有一宽头段131与一窄身段132，且于尾段相对该止付螺孔113形成有一止付环槽133，而穿设于该上结合孔122与该下结合孔112；至少一对缓冲弹簧14，套设于该结合杆13而位于该推压块12与该基座11之间；以及一对止付螺丝15，锁合于止付螺孔113而伸入该止付环槽132；如此，利用该止付螺丝15定位该结合杆13，而以该结合杆13将该推压块12与该缓冲弹簧14结合于该基座11。

然而，现有的晶片检测推压器10在反复施加推压力于待检测晶片之后，该缓冲弹簧14的弹力会使得该推压块12反复撞击该结合杆13的宽头段131，致使该结合杆13反复处于被撞击的状态，导致该止付螺丝15反复被该止付环槽132撞击，久而久的将造成该止付螺丝15松脱，致使现有的晶片检测推压器10具有结合稳固性较差的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的，系欲解决现有技术结合稳固性较差的问题，而具有提升结合稳固性的功效。

为达上述功效，本实用新型提供一种晶片检测推压器，其特征在于，包括有：

一基座，至少具有一下凹部，而由该下凹部向下形成有一对锁合孔；

至少一推压块，底缘相对该下凹部具有一凸缘部，而在该凸缘部相对该对锁合孔形成有一对上宽下窄的结合孔；

至少一对结合杆，相对该结合孔形成有一宽头段与一窄身段，且相对该锁合孔形成有一螺纹尾段，而将该宽头段与该窄身段穿设于该结合孔且将该螺纹尾段锁设于该锁合孔；以及

至少一对缓冲弹簧，套设于该结合杆而位于该推压块与该基座之间；

如此，利用该结合杆锁设于该基座进而将该推压块与该缓冲弹簧结合于该基座。

于是，利用结合杆直接锁设于基座而将推压块与缓冲弹簧结合于基座的设计，致使结合杆反复处于被撞击的状态也无松脱的顾虑。

附图说明

图1是现有晶片检测推压器的结构分解图。

图2是现有晶片检测推压器的结构组合图。

图3是本实用新型的结构分解图。

图4是本实用新型的结构组合图。