[实用新型]一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具

说明书

本实用新型涉及PWDM器件加工治具技术领域，尤其是涉及一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具，包括治具本体；在所述治具本体上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面；在所述端面上形成有能从所述钢管端部插入的凸起；所述凸起的高度介于所述滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。本发明的发明目的在于提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具，采用本发明提供的技术方案解决了现有PWDM器件滤波片的内陷深度的检测方法存在操作复杂、检测效率低以及可视性低的技术问题。

技术领域

本发明涉及PWDM器件加工治具技术领域，尤其是涉及一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具。

背景技术

PWDM基于成熟的薄膜滤波技术设计，具有平坦的通道带宽、高隔离度、低插损及高环境稳定性和可靠性等特点，其作用为对不同波长进行合成或分离，适用于WDM(波分复用)系统、激光器封装、光纤放大器、CATV(有线电视系统)和FTTH(光纤到户)等领域。

PWDM器件采用空心钢管为壳体，滤波片设置在钢管内，在PWDM产品具体生产过程中，值得注意的是滤波片对钢管端面的内陷深度(以下统称内陷深度)。由于最终要对一个性能合格的PWDM产品封装PD(光电二极管)，而封装时需要对其响应度进行监测。若PWDM器件滤波片位置不正确，会导致后续耦合困难，严重时导致产品响应度不合格，影响产品耦合的效率和良率。因此，在生产时需要对成品PWDM器件的滤波片的位置进行严格检测、筛选，请参见图1，其内陷深度的标准范围为0.3mm～0.7mm。

请参见图2，目前对于深度测量的方法主要有目测估计法、卡尺测量法、深度计/高度规测量法。

目测估计法，即不借助任何工具，直接用裸眼观测。此种方法虽然无需考虑任何成本，但其检测结果具有很大缺陷，精准度不高，尤其是对于一些微小距离检测，其可用性不高。

卡尺测量法，主要采用游标卡尺的深度测量功能对器件深度进行测量。此种方法虽然测量精度高，结果准确，但对于一些只需要区分是否在合格深度范围内、不需要测量准确深度值的产品显得操作复杂、检测效率低、可视性低，且检测PWDM器件时需要与滤波片表面直接接触，其本身结构会对滤波片造成一定损坏，影响产品性能。

深度计/高度规测量法，主要采用深度计/高度规对器件深度进行测量。深度计/高度规是专门用来测量深度的一种器具，其与卡尺测量法相比测量精度更高，结果更准确。但对PWDM器件的滤波片对钢管端面的内陷深度的检测区分也存在卡尺测量法同样的缺点。

发明内容

本发明的发明目的在于提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具，采用本发明提供的技术方案解决了现有PWDM器件滤波片的内陷深度的检测方法存在操作复杂、检测效率低以及可视性低的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种用于PWDM器件滤波片的内陷深度检测治具，包括治具本体；在所述治具本体上形成有能抵靠于PWDM器件的钢管端部的端面；在所述端面上形成有能从所述钢管端部插入的凸起；所述凸起的高度介于所述滤波片内陷深度的最大值与最小值之间。

优选的，所述凸起有两个，且其高度分别为所述滤波片内陷深度的最大值和最小值。

优选的，所述治具本体呈条形，两个所述凸起分别形成于所述治具本体的两端部。

优选的，所述治具本体的端部延伸至所述凸起的部分呈倒角处理。

优选的，在所述治具本体两端部的轴心处开设有孔道。

优选的，所述凸起呈圆台形，且其边缘处呈圆角处理。