[实用新型]一种防止按键接触不良影响按键功能实用电路

说明书

本实用新型提供一种防止按键接触不良影响按键功能实用电路，包括按键K1控制回路、按键K2控制回路、按键K3控制回路以及按键K4控制回路，所述按键K1控制回路、按键K2控制回路、按键K3控制回路以及按键K4控制回路之间均通过导线相连接，该设计实现了防止按键接触不良影响按键功能的目的。

技术领域

本实用新型是一种防止按键接触不良影响按键功能实用电路，属于按键检测技术领域。

背景技术

目前电子行业使用接触式按键的产品都存在使用时间长以后按键失灵或按键功能错乱的情况，因为很多产品都是直接用按键的通断来控制按键读值的，现有的按键检测方式，在按键使用久了会有进灰尘或按键正常磨损现象，会造成按键接触电阻变大从而影响了电路的按键读值，读值与原来系统设定值偏离了就会造成按键失灵或按键功能错乱。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种防止按键接触不良影响按键功能实用电路，以解决上述背景技术中提出的问题，本实用新型实现了防止按键接触不良影响按键功能的目的，电路简单，稳定性好，可靠性高。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种防止按键接触不良影响按键功能实用电路，包括按键K1控制回路、按键K2控制回路、按键K3控制回路以及按键K4控制回路，包括三极管Q5，所述按键K1控制回路、按键K2控制回路、按键K3控制回路以及按键K4控制回路之间均通过导线相连接。

进一步地，所述按键K1控制回路包括三极管Q5，所述三极管Q5的发射极通过导线接地，所述三极管Q5的基极第一支路通过导线接按键K1的1号引脚，第二支路通过电阻R22接地，所述三极管Q5的集电极通过导线接电阻R11的一端，所述电阻R11的另一端通过导线接端子ADC_KEY_IN，所述按键K1的2号引脚通过导线接电阻R9的一端，所述电阻R9的另一端通过导线接电源端子3.3V。

进一步地，所述按键K2控制回路包括三极管Q6，所述三极管Q6的发射极通过导线接地，所述三极管Q6的基极第一支路通过导线接按键K2的1号引脚，第二支路通过电阻R23接地，所述三极管Q6的集电极通过导线接电阻R14的一端，所述电阻R14的另一端通过导线接端子ADC_KEY_IN，所述按键K2的2号引脚通过导线接电阻R13的一端，所述电阻R13的另一端通过导线接电源端子3.3V。

进一步地，所述按键K3控制回路包括三极管Q7，所述三极管Q7的发射极通过导线接地，所述三极管Q7的基极第一支路通过导线接按键K3的1号引脚，第二支路通过电阻R24接地，所述三极管Q7的集电极通过导线接电阻R16的一端，所述电阻R16的另一端通过导线接端子ADC_KEY_IN，所述按键K3的2号引脚通过导线接电阻R15的一端，所述电阻R15的另一端通过导线接电源端子3.3V。

进一步地，所述按键K4控制回路包括三极管Q8，所述三极管Q8的发射极通过导线接地，所述三极管Q8的基极第一支路通过导线接按键K4的1号引脚，第二支路通过电阻R25接地，所述三极管Q8的集电极通过导线接电阻R18的一端，所述电阻R18的另一端通过导线接端子ADC_KEY_IN，所述按键K4的2号引脚通过导线接电阻R17的一端，所述电阻R17的另一端通过导线接电源端子3.3V，所述电源端子3.3V通过电阻R21接端子ADC_KEY_IN。

进一步地，所述三极管Q5、三极管Q6、三极管Q7以及三极管Q8的型号均为2N3904。

进一步地，所述电阻R9、电阻R13、电阻R15以及电阻R17的阻值均为4.7K，所述电阻R22、电阻R23、电阻R24以及电阻R25的阻值均为100K。

进一步地，所述电源端子3.3V通过导线与外部电源板输出端相连接，所述端子ADC_KEY_IN通过导线与外部控制板模拟信号输入端相连接。