[实用新型]纱团硬度测量仪有效

专利信息
申请号: 201920418158.9 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN210604230U 公开(公告)日: 2020-05-22
发明(设计)人: 张志坚;宋长久;费其锋;章建忠;李明;冉文华;周贤旺;曹云飞;顾嘉雯 申请(专利权)人: 巨石集团有限公司
主分类号: G01N3/40 分类号: G01N3/40
代理公司: 杭州天欣专利事务所(普通合伙) 33209 代理人: 陈红;陈农
地址: 314500 浙江省嘉*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 硬度 测量仪
【权利要求书】:

1.一种纱团硬度测量仪,其特征是:包括测量终端和传感装置,所述测量终端包括按键、显示屏、基座、压力测量电路和处理器,处理器与按键、显示屏、压力测量电路均连接,所述的基座与压力测量电路的压力检测元件连接,所述传感装置包括保护罩和测针,所述的测针一端穿过保护罩内部后伸出,测针另一端与基座连接,保护罩安装在测量终端上,所述的测针头部为锥形结构。

2.根据权利要求1所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针伸出保护罩底面3~9毫米,测针头部锥形结构高度不小于测针一端伸出保护罩底面的距离。

3.根据权利要求1所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述的测针与基座通过螺纹结构连接。

4.根据权利要求1所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述保护罩为中空圆柱形结构。

5.根据权利要求1至4任一项所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针头部锥度为30°~75°,锥高3~13毫米。

6.根据权利要求5所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针头部锥度为40°~70°,锥高4~11毫米。

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